晶粒大小

D8 DISCOVER with Davanci Design布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪,材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计,配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件,附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换,包括:反射率测量......

全自动基质喷涂装置,适用于高分辨率组织质谱成像,可实现以下功能:一、旋转气助喷雾技术,可产微小的液滴,基质结晶晶粒大小平均≤10微米;二、脂类、多肽、yao物、代谢物等检测前的基质制备和喷涂;三、基质选择范围广,各种有机小分子基质如DHB,CHCA,SA,和无机纳米基质;四、方法参数可调,重复性高。......

仪器简介:       组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。技术参数:1. X射线发生器功率为3KW2......

理学 Ultima IV 粉晶X射线衍射仪

参考成交价格: 100~150万元[人民币]

理学 X射线衍射仪(XRD)

型号:Ultima IV

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Ultima IV组合型是日本理学公司生产的Ultima系列中第四代最新型组合多功能高分辨的粉晶X射线衍射仪。利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析等。仪器用途:可用于测定各种粉末、块状、薄膜等样品的物相定性与定量分析,计算结晶化度、晶粒大小等。仪器简介:       ......

 多晶X射线衍射仪也称为粉末衍射仪,被测对象通常为粉末、多晶体金属或高聚物等块体材料。多晶衍射仪主要由以下四部分组成:1、X射线发生器--产生X射线的装置;2、测角仪--测量角度2θ的装置;3、X射线探测器--测量X射线强度的计数装置;4、X射线系统控制装置--数据采集系统和各种电气系统、保护系统。仪器简介:     ......

 X射线衍射仪主要是用于测定晶体结构,根据晶体结构来判断矿物种类,根据衍射峰的强弱来判断物相含量的高低。多晶X射线衍射仪也称为粉末衍射仪,被测对象通常为粉末、多晶体金属或高聚物等块体材料。仪器简介:       组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独......

X射线衍射测试系统包含:多功能X射线衍射仪、单晶X射线衍射仪、台式X射线衍射仪等设备,可提供粉末、薄膜物相定性定量分析、结晶度分析、织构、应力及晶粒大小分析;可以进行原位电池充放电反应测试;小分子化合物、配合物以及药物等晶态物质的三维空间结构测定。粉末样品要求:干燥,在空气中稳定,粒度均匀,粒径≤10µm,粉末样品量约需1-2g仪器简介:Miniflex60......

金属平均晶粒度检测表示晶粒大小的尺度叫晶粒度,常用单位体积(或单位面积)内的晶粒数目或晶粒的平均线长度(或直径)表示。工业生产上采用晶粒度等级来表示晶粒大小。标准晶粒度共分12级,1~4级为粗晶粒,5~8级为细晶粒,9~12级为超细晶粒度。项目介绍:钢板铁素体晶粒度检测是钢板铁素体晶粒度大小及晶粒形状检测。应用领域:钢类金属及制品检测方法:晶粒度检验是借助金......

钢板铁素体晶粒度检测表示晶粒大小的尺度叫晶粒度,常用单位体积(或单位面积)内的晶粒数目或晶粒的平均线长度(或直径)表示。工业生产上采用晶粒度等级来表示晶粒大小。标准晶粒度共分12级,1~4级为粗晶粒,5~8级为细晶粒,9~12级为超细晶粒度。项目介绍:钢板铁素体晶粒度检测是钢板铁素体晶粒度大小及晶粒形状检测。应用领域:钢类金属及制品检测方法:晶粒度检验是借助......

晶粒度评定 晶粒尺寸是评定金属材料性能的重要依据,对于一般常温下使用的金属材料,晶粒越细,不仅强度、硬度较高,而且塑性、韧性较强,能实现强度和塑性几乎矛盾的指标能够同时增加。广电计量能提供晶粒度评定测试。服务内容广电计量通过比较法、面积法、截点法来对金属材料进行晶粒度评定测试。服务范围适用于汽车、通信、医疗、轨道交通、电子电器等行业的......

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