Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计创新,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性<5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量,在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触......
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计,具有易用的联锁门,是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力,其高自动化水平可大限度地提高测试通量。增强的软件功能使 D......
布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供无与伦比的重现性,重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰,更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品,DektakXT实现了高性能。操作简易,从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代 Dektak 台阶仪能够在微电子,半导体......
国产手动台阶仪 JS10A,稳定可靠的重复性测量,采用金刚石探针,无畸变的观察样品区,实时观察扫描区域,突破三个核心技术,国内研发生产,便于售后服务。【支持定制台阶仪】国产手动台阶仪JS10A,拥有高精度、高分解能,搭配一体花岗岩结构,提供稳定可靠的重复性测量。JS10A提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像,可无畸变的观察样品区,方便定位特征区域,同时探针......
国产全自动台阶仪JS1000A,拥有高精度、高分解能,搭配一体花岗岩结构,提供稳定可靠的重复性测量。JS1000A提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像,可无畸变的观察样品区,方便定位特征区域,同时探针扫描时可实时观察扫描区域。【支持定制台阶仪】国产全自动台阶仪JS1000A,拥有高精度、高分解能,搭配一体花岗岩结构,提供稳定可靠的重复性测量。JS1000A......
国产半自动台阶仪JS100A,国产台阶仪拥有高精度、高分解能,搭配一体花岗岩结构,提供稳定可靠的重复性测量。JS100A提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像,可无畸变的观察样品区,方便定位特征区域,同时探针扫描时可实时观察扫描区域。【支持定制台阶仪】国产半自动台阶仪JS100A,拥有高精度、高分解能,搭配一体花岗岩结构,提供稳定可靠的重复性测量。JS100......