ingaas半导体分析

SolidSpec-3700i/3700i (DUV) 紫外可见近红外分光光度计仪器简介:岛津公司最近推出了最新的紫外可见近红外分光光度计高端产品SolidSpec-3700i。SolidSpec-3700i采用了PMT/InGaAs/PbS三个检测器,以及超大的样品室,并配备了积分球装置。最大测定范围可扩展到是165~3300nm,同时推出的还有X-Y自动......

iDus 2.2 μm InGaAsAndor’s iDus InGaAs 492 array detector series provides the most optimized platform for Spectroscopy applications up to 2.2 μm. The TE-cooled, in-v......

ArtRay 提供各种芯片规格的InGaAs 相机• 最高分辨率 1300 万像素;• USB3.0/2.0 接口• 帧频 30-300 fps;• 宽光谱覆盖范围:400-1700nm 可选• 免费系统控制软件以及软件开发包• 众多规格短波红外镜头可选: f=6mm,8mm,12mm,16mm,25mm,35mm,50mm,75mm 满足不同应用需求• 尺......

近红外InGaAS GaAsSb 相机

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Artray 近红外相机/InGaAs相机

型号:ARTCAM-2350SWIR/ARTCAM-2500SWIR

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日本Artray 公司是一家工业相机制造商,其产品覆盖从紫外、可见光、近红外到中红外波段。提供CCD 相机、CMOS 相机、InGaAs 面阵相机、SWIR 制冷面阵相机、InGaAs 线阵相机、红外热像仪等一系列产品。广泛应用于食品、药品、光伏、集成电路IC、半导体、PCB、MEMS 等行业的检测。技术参数参数: 型......

近红外InGaAs 相机主要特点:量子效率高,暗电流小,灵敏度高,曝光时间范围宽。XC-130SP1201/1203主要应用领域:空间遥感、夜视、侦察与监视、遥感系统、红外成像制导、光电对抗等。......

RED-Wave 红外InGaAs 光纤光谱仪,光谱范围900-2300nm,TEC制冷到-10°C,信噪比可以做到4000:1。积分时间1ms到30s。*高分辩率可以做到3.1nm。• 光谱测试范围900-2300 nm or 900–1700nm• 近红外光谱测试和宽波段应用• 512 or 1024 像素InGaAs 和PDA 探测器• 2 级集成热电......

PSEL 公司使用的InGaAs 阵列短波红外相机,具有极低低暗电流和低缺陷像素数。得益于高效的冷却和稳定的偏置基线,PSEL 的短波红外InGaAs 相机可以在SWIR 光谱中进行精确的计量测量。Camera Link 和千兆以太网视觉兼容的界面接口使相机集成到客户现有系统变得很容易。具有可见光扩展的640 x 512 VGA SWIR 芯片以......

安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 可用于测定半导体,适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链,始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代,整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来,位于日本东京的安捷伦 IC......

点击查看下载粒度分析仪岛津激光粒度仪 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 SALD系列提供了一组产品,适合多种粒度范围测量。参考测量范围表选择更佳型号。 型号-1型号-2测量方法激光衍射方法测量范围0.25-50μm*0.25-350μm*光学系统光源半导体激光器(波长670纳米)样品池批式池高耐火玻璃及四氟乙烯循环池-融合硅,SU304,及四氟乙......

点击查看下载MS-TS天平分析 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 梅特勒托利多NewClassic MS系列天平可以帮助客户实现质量与效率的高称量需求,提供可靠且易于使用的天平。坚固的天平融合先进、安全的产品特性,确保您获得可信任的称量结果,用户化指导、直观的图形化界面及内置的应用程序使日常的称量工作变得更简单,即使是对未经培训的操作人员,智能......