布鲁克 三维轮廓仪
NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性，超出了接触式仪器的可能，使其成为一种互补的技术或独立的计量解决方案。无与伦比的计量灵活性NPFLEX是专为调查广泛变化的样本大小和形状而设计的，而不损坏样品。不敏感的材料类型，该系统的WL......
结合了十多年的包装光学特性专门知识，CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层，并包含了一系列先进的功能，为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面，提供了......
布鲁克工业CT SkyScan 1273参考多项行业标准。完成锂电池的检测。可以用在电池/锂电池行业领域中的三维图像项目。 三维X射线显微成像技术（3D XRM）利用X射线极强的穿透能力，获取样品内部信息，再根据计算断层成像（CT）获得三维图像，图像反映了样品内部不同物质在三维空间的分布，可用于缺陷检测，结构分析，物质识别，尺寸测量等不同方向。 特点40-1......
中图仪器SuperViewW1白光干涉三维光学轮廓仪基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，能以3D非接触方式对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等......
中图仪器摩擦磨损三维形貌轮廓仪的3D重建算法自动滤除样品表面噪点，在硬件系统的配合下测量精度可达亚纳米级别。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。中图仪器......
SuperViewW白光干涉三维形貌轮廓仪纳米级分辨率，非接触式测量各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。产品特点1、干涉物镜不......
中图仪器SuperViewW白光干涉三维形貌轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表......