高分辨场发射扫描电镜原理
JSM-IT800 热场发射扫描电子显微镜JSM-IT800具备高分辨观察和高速元素面分析，能够满足客户的各种需求。该装置配备浸没式肖特基场发射电子枪、新一代电子光学控制系统Neo Engine、一体化EDS、易用的操作导航SEM Center、及可置换的物镜模块。特性JSM-IT800 整合了我们用于从高分辨率成像到快速元素分析的“浸没式肖特基 Plus ......
主要特点: 超高的分辨率0.5 nm (15 kV) and 0.7 nm (1 kV). 高速精确分析能力 稳定的大束流 从磁性样品到非导体样品使用范围广泛 技术指标： 分辨率:0.8nm (15kV)1.2nm (1kV) 放大倍数:25 to 2,000,......
具备优异性能的SEM，适用于纳米及亚纳米级别的空间分辨率应用 纳秒级的T1闪烁体探测器，获取卓越的背散射电子衬度图像 大工作距离（10mm)下具备出色的空间分辨率Apreo 2 SEM场发射扫描电镜一款具备优异性能的多功能型成像及分析的扫描电镜材料表征先进的材料表征实验室需要使用最新技术，且将分析仪器（包括 SEM扫描电镜）的性......
TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜，能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和表征的需求。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 镜筒，该镜筒配置了可变比例式静电-电磁复合物镜，可以在低加速电压下实现无漏磁超高分辨成像，这对于包括磁性样品在内的各类样品具有广泛的适用能力。主要特......
最早期作为商品出现的是1965年英国剑桥仪器公司生产的第一台SEM，它用二次电子成像，分辨率达25 nm，使SEM进入了实用阶段。1968年在美国芝加哥大学，Knoll 成功研制了场发射电子枪，并将它应用于SEM，可获得较高分辨率的透射电子像。1970年他发表了用扫描透射电镜拍摄的铀和钍中的铀原子和钍原子像，这使SEM又进展到一个新的领域。2021年，全数字......
新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体效果好。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜，能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和表征的需求。TESCAN CLAR......
扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM）是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器 。具有景深大、分辨率高，成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜，能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和......
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家的努力下，解决了SEM 从理论到仪器结构等方面的一系列问题。主要特点......
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器，适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。TESCAN MAGNA 配置 Triglav™ 型 SEM 镜筒，具有超高的分辨率，在低电压下尤为明显；镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力，可以获得更好的图像衬度和表......
FESEM的工作原理是利用电子场致发射现象，即在极强的电场作用下，金属表面会发射出电子。FESEM中的电子枪是由钨丝制成的钨丝的直径只有几微米，可以发射出极细的电子束。电子束经过聚焦透镜的聚焦作用，形成极小的电子束斑点，然后通过扫描线圈进行扫描，扫描电子束在样品表面形成的图像被探测器捕捉并转换成电信号，最终形成图像。TESCAN MAGNA 新一代......