邀请函 | M&M2023 硬货满满、体验爆棚！现场空间有限，预约从速！

2023-07-20 10:35:52, TESCAN中国 TESCAN（中国）

点击上方“TESCAN公司”关注我们吧

TESCAN 邀您莅临

展台号：819

2023年7月24-27日 · 美国

Microscopy & Microanalysis 2023

TESCAN全球团队盛情邀您相聚美国M&M2023大会（819号展台）。我们准备了前沿科技、技术研讨会、样机体验等活动，限于现场空间，名额有限，预约从速~

真机体验

您将有机会亲手探索体验四款真机。

点击文末“阅读原文”预约

首台近超高真空4D-STEM

TESCAN Tensor

TESCAN 集成和旋进辅助的分析型 4D-STEM 旨在满足任何对多模态纳米表征应用（形态学、化学和结构）感兴趣的人的需求，包括材料科学家、半导体研发、失效分析工程师和晶体学家。

新一代超高分辨率SEM

TESCAN CLARA

在新升级的TESCAN CLARA超高分辨率扫描电镜上进行演示，这是我们多功能超高分辨率显微镜解决方案，可提供任何样品的最大细节和对比度信息，即使是磁性和电子束敏感材料。

Plasma FIB-SEM

TESCAN Amber X

了解TESCAN AMBER X FIB-SEM 如何推动您的产品开发，并快速轻松地获得全面的答案。

Micro-CT

TESCAN UniTom HR

TESCAN UniTOM HR 是一种多功能micro-CT系统，结合了高空间分辨率和高时间分辨率，针对静态和动态成像进行了优化，满足所有必要的成像要求。

技术研讨会

点击文末“阅读原文”预约

TESCAN 展位 819号

7月24日（周一）

03:30 PM - 04:00 PM

ACCELERATING CRYO-TEM SAMPLE PREPARATION（30分钟）

报告人：
Jakub Javůrek

05:45 PM - 06:30 PM

VENDOR TUTORIAL: ACCELERATING AND ADVANCING NANOSCALE CHARACTERIZATION OF MATERIALS BY SEAMLESS 4D-STEM WORKFLOWS USING THE NEW TESCAN TENSOR ANALYTICAL STEM MICROSCOPE（45分钟）

报告人：
Robert Stroud

7月25日（周二）

12:30 PM - 01:00 PM

XE ION MILLING IN AN OXYGEN-RICH ENVIRONMENT: A POSITIVE EXPERIENCE（30分钟）

报告人：
Jamie Ford, Ph.D. of the University of Pennsylvania

03:30 PM - 04:00 PM

(COLOR) X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY FOR MANUFACTURING（30分钟）

报告人：

Jay Warnett, Ph.D. of WMG

04:30 PM - 05:00 PM

ADVANCING STRAIN ANALYSIS BY USING NANOBEAM 4D-STEM MEASUREMENTS（30分钟）

报告人：
Robert Stroud

7月26日（周三）

12:30 PM - 01:00 PM

MULTIMODAL CHARACTERIZATION IN THE EVALUATION OF ELECTROCHEMICAL MATERIALS AND THEIR INTERPHASES （30分钟）

报告人：
Emily Lith of Dragonfly Energy

03:30 PM - 04:00 PM

IMPROVING 4D-STEM PHASE AND ORIENTATION MAPPING AT THE NANOMETER SCALE（30分钟）

报告人：
Robert Stroud

04:30 PM - 05:00 PM

LARGE SCALE XE PFIB/SEM ANALYSIS OF SHALE: NANOMETER RESOLUTION ACROSS MILLIMETERS OF ROCK…WHAT IS STILL POSSIBLE? （30分钟）

报告人：
Annalena Wolff, Ph.D. of CalTech

05:45 PM - 06:30 PM

VENDOR TUTORIAL: STREAMLINING MATERIALS SCIENCE SAMPLE CHARACTERIZATION WITH HIGHLY AUTOMATED FIB-SEM TEM SAMPLE PREPARATION FOR ANALYSIS IN TESCAN TENSOR 4D-STEM （45分钟）

报告人：
Martin Slama

M&M 前沿科技

点击文末“阅读原文”预约

7月24日（周一）

03:00 PM - 05:00 PM

ADDING ANOTHER DIMENSION TO 4D-STEM WITH EDX-ASSISTED CRYSTAL ORIENTATION AND PHASE MAPPING（2小时）

位置：A04.P1 - The Praxis of 4D-STEM - Extracting Information from Biological and Functional Materials

报告人：
Tomáš Morávek
- TESCAN TEM

7月25日（周二）

09:30 AM - 09:45 AM

DYNAMIC CT IMAGING IN THE LABORATORY: CHARACTERIZATION OF PORE FILLING EVENTS IN GEOLOGICAL MATERIALS （15分钟）

C05.1 - Vendor Symposium

报告人：
Dr. Jan Dewanckele
- TESCAN XRE

03:00 PM - 05:00 PM

AN INTEGRATED SOLUTION FOR THE COMPLETE SERIAL BLOCK-FACE SCANNING ELECTRON MICROSCOPY WORKFLOW: FROM IMAGE ACQUISITION TO DATA PROCESSING（2小时）

位置：B09 - Volume Electron Microscopy in Biological Research – Instrumentation, Sample Preparation, and Data Handling.

报告人：

Martin Koban
- TESCAN Applications Engineer, R&D Life Sciences

7月26日（周三）

11:45 AM - 12:00 PM

DEVELOPMENT OF A MULTI-SCALE IMAGING AND ANALYSIS WORKFLOW FOR BATTERIES: FROM CELL LEVEL TO ELECTRODE PARTICLE POROSITY. （15分钟）

位置：P10.6 Advanced Imaging and Spectroscopy for Sensitive Materials and Interfaces

报告人：
Dr. Wesley De Boever
- TESCAN XRE

03:00 PM - 05:00 PM

3D MULTI-MODAL ELEMENTAL CHARACTERIZATION OF LI-ION BATTERY COMPONENTS USING SEM, EDS, AND TOF SIMS IN THE FIB-SEM TOMOGRAPHY

位置：Poster #285

PREPARE SAMPLES AT MAXIMUM THROUGHPUT AND WITH ARTIFACT-FREE SURFACES USING HIGH CURRENT PLASMA FIB-SEM

位置：Poster PDP-25

ENHANCING SAMPLE PREPARATION FOR IN-SITU HEAT TREATMENT OF AL-MN-CR-ZR BASED ALLOYS IN SYNCHROTRON STUDIES FOR ADDITIVE MANUFACTURING WITH PLASMA FIB-SEM TECHNOLOGY

位置：Poster PDP-26

GEOMETRIC CONTROL OF CELL BEHAVIOR BY BIOMOLECULE NANODISTRIBUTION

位置：Poster PDP-27