X射线荧光光谱分析方法的检出限

2023-06-12 16:20:35, 应晓浒 布鲁克衍射荧光事业部


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检出限的定义

按IUPAC(国际纯粹与应用化学联合会)的推荐,检出限(LLD)按统计学定义的方式表示,即背景强度(空白)值标准偏差三倍对应的含量。

普遍采用的检出限计算方法:背景强度平方根三倍所对应的含量。

▲注:上述描述引用自:高新华,宋武元,邓赛文,胡坚。实用X射线光谱分析。化学工业出版社,2016:189

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检出限计算公式的推导

背景的计数统计误差= 

背景的总计数:

Ib:背景的强度

Tb:背景的测量时间

计数统计误差除以背景的测量时间,就是背景强度的统计误差= 

当测量到的净强度大于了背景波动的标准偏差的3倍,认为这个成分可以被检出:

背景波动的3倍标准偏差的强度信号所对应的含量,就是检出限:

m = 灵敏度 (cps/%)

3

检出限计算公式

Ib = 背景强度(cps)

Tb = 背景测量时间(sec)

m = 灵敏度 (cps/%)

3 =  3倍标准偏差

4

检出限计算公式的说明

实际计算时,需要考虑更多细节:

1、灵敏度。

这个灵敏度系数不是简单的X射线荧光强度除以含量,而是校准曲线的斜率的倒数。

2、背景强度。

背景的意义是:当含量为零时,即一个空白的样品,所测得的信号。在谱峰的附近选择一个背景位来测量背景,实际是希望用这个背景位的强度来代替空白样品的强度。

背景可能是斜的。真实背景 = 测量背景 + 残留背景(校准曲线的截距)

3、误差传递

要考虑谱峰的波动和背景的波动,即要考虑谱峰的测量时间和背景的测量时间

4、实际计算比较复杂,可以参考Spectra plus软件的计算结果。

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Spectra Plus软件中的检出限

在“应用”-“校准”-“计算”的最后一列是LLD

6

定量下限

或者称之为测定下限minimum quantitative detection limit。

在限定误差能满足预定要求的前提下,用特定分析方法能够准确定量测定待测物质的最低含量

通常以检出限的2倍、3倍、4倍,甚至10倍,作为定量下限。

“HJ168-2020 环境监测分析方法标准制订技术导则”建议:

一般情况下以4 倍检出限作为测定下限。

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