好消息！法国Phasics公司高精度红外/近红外波前传感器取得出口豁免，无需出口许可！

法国Phasics成立于2003年，提供最先进的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得专利的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性，从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。

近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉，公司提交申请的高精度红外（3-5um &8-14um）/近红外（900-1700nm）波前传感器出口豁免申请已获得通过。这就意味着客户采购SID4-DWIR红外（3-5um &8-14um）和SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器时无需再提供最终用户备案。

下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪：

1.SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器

图1 SID4-SWIR波前分析仪

SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器产品特点：

高相位分辨率：160x128 or 80x64

高重复度：<2nm RMS

高测量精度：15nm RMS

工作波段：900-1700nm

高灵敏度：可适用于低功率红外光源测试

瞬时相位测量，对振动不敏感

可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

2. SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪

图2 SID4-DWIR波前分析仪

SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪产品特点：

宽工作波段：3-5um & 8-14um

高相位分辨率：160x120

高重复度：25nm RMS

高测量精度：75nm RMS

对振动不敏感

可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

3. 近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统

图3 Kaleo Kit红外测试模组

近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统产品特点：

多波长：266nm, 355nm, 405nm，550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm，1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um

大口径：Up to 5.1”(130mm)

高重复度精度：<0.7nm RMS

高测量精度：80nm PV

对震动不敏感

测试案例：

图4 非球面测试结果

图5 平面测试结果

图6 镜头透射波前测试结果

图7 镜头MTF测试结果

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码内包含如下资料：

SID4-NIR 近红外 波前传感器 / 波前分析仪产品数据单

PHASICS-SID4-NIR.pdf

SID4-SWIR 短波近红外波前传感器产品数据单

PHASICS-SID4-SWIR.pdf

SID4-SWIR-HR 高分辨率 短波红外 波前传感器产品数据单

PHASICS-SID4-SWIR-HR.pdf

SID4-DWIR 中远红外 波前传感器/波前分析仪产品数据单

PHASICS_SID4_DWIR.pdf

上海昊量光电作为Phasics公司在中国大陆地区最大的代理商，为您提供专业的选型以及技术服务。如您对Phasics公司的波前传感器产品或者测试系统感兴趣或者任何问题，都欢迎通过电话、电子邮件或者微信与我们联系。也可直接添加产品负责人咨询。

产品负责人：沈工

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