大咖一对一丨机会难得，不容错过

Micromeritics长久以来坚持为广大用户提供专业可靠的仪器产品，以及优质贴心的服务支持。今年，大连催化⁺国际峰会特邀Micromeritics全球技术副总裁来到中国，与中国用户见面，带来前沿的研究内容分享，同时提供机会，与我们的客户进行深入交流。

Jeffrey Kenvin博士在颗粒表征领域有丰富经验，他的专业领域是使用物理和化学吸附法表征多孔材料和催化剂以及汞孔隙度测定法，在Nat. Commun, J Catal, Adv. Funct. Mater., Langmuir, Nanomicro Lett等国际知名期刊上多次发表SCI论文。他在国际咨询委员会任职，同时也是ASTM D-32催化委员会委员。

Jeffrey Kenvin博士是Micromeritics仪器产品的开发设计者，深入参与了目前麦克多款产品的研发工作。他参与了microactive软件的开发，并建立了很多DFT/NLDFT模型以及其应用的开发。不论是在研究开发，还是在产线应用方面，都能够为使用麦克仪器的用户提供强有力的支持。

另外，Jeffrey Kenvin博士参与开发了DHS迟滞环微分扫描分析技术，利用DHS技术结合NLDFT模型，可以很好地表征多孔材料。DHS技术是麦克在孔道物理表征的又一个技术突破，受到了众多用户关注。

此次Jeffrey Kenvin博士来到中国，我们特别安排他与用户进行一对一交流。如您希望与我们的颗粒表征大咖有一次面对面深入沟通的机会，欢迎带上您对研究课题或疑问，立刻预约Jeffrey Kenvin博士的时间。