网络研讨会丨Presenting the multi-technique toolkit for an XPS system

XPS作为一种高效的表面分析手段，不仅广泛应用于化学分析、材料应用开发、物理理论研究等学术领域，对于机械加工、印刷电路、镀膜材料工艺控制和纳米功能材料开发等工业领域，也能提供全方位的解决方案。随着表面分析技术拓展性的逐渐增强，在对各类型材料进行XPS表征分析的同时，经常需要联用其他分析技术以实现对材料的综合表征分析。

本期研讨会，我们将向您介绍Thermo Scientific™ Nexsa™以及Thermo Scientific ESCALAB™ Xi+系列XPS产品如何联用其他的分析技术，以实现更全面的数据分析，例如ISS、UPS、REELS、AES和拉曼光谱等，并将向您举例说明这些技术与XPS在特定应用中的最佳方案。

快来加入我们与专家一起

学习离子散射谱（ISS），反射电子能量损失谱（REELS），紫外光电子谱（UPS），俄歇电子谱（AES）的基础知识

了解这些技术与XPS联用可获得的额外信息

案例分析——展示在特定应用中的最佳方案

网络研讨会时间

11月17日，星期二

北京时间 20:00-21:00

报名方式

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