2025-12-30 11:21:59, HORIBA HORIBA(中国)
随着纳米科技飞速发展,精准的测量技术是推动新材料研发、质量控制以及法规合规的关键。国际标准化组织(ISO)发布的 ISO/TR 18196,作为纳米技术领域系统化的测量方法选择指南,为全球科研与产业界提供了至关重要的指导。该标准以技术矩阵的形式,将动态光散射(DLS)、纳米颗粒追踪分析(NTA)、激光衍射等 10 余种技术依据应用场景进行分类,有效解决了“方法选择难”的行业痛点。本次网络研讨会,我们特别邀请到 BREC Solutions 的总监 Denis KOLTSOV 博士,为大家深度拆解这一标准。
纳米技术在材料科学、电池技术、生物医药、环境监测等相关行业广泛应用(图片由 AI 生成)
作为纳米技术表征领域的权威指南,ISO/TR 18196 的技术矩阵究竟如何落地应用?不同测量技术的适用边界与优劣对比的核心要点又是什么?科研数据与产业质控需求怎样通过标准实现高效衔接?Denis Koltsov 博士凭借其在纳米材料表征领域的丰富经验,将从标准制定背景、技术矩阵构建逻辑切入,逐一解析各类测量技术的原理、适用场景及实操注意事项。通过一小时的高密度干货分享,您将快速掌握 ISO/TR 18196 标准的框架,明晰不同测量技术的选择逻辑,助力科研项目高效推进与企业产品合规升级。
为帮助大家更好地掌握课程内容,本课程配有中英双语字幕。扫文末二维码或点击 “阅读原文”,即刻了解 ISO/TR 18196 标准指南。
掌握纳米测量新标杆:ISO/TR 18196 技术矩阵实用指南
研发科学家与工程师
质控(QC)与质量保证(QA)人员
法规事务专员
学术研究者与实验室管理者
Denis Koltsov 博士
BREC Solutions 总监
了解如何根据 ISO/TR 18196 优化测量方法。
提升实验室间数据可比性,增强监管信心。
掌握标准化数据解读技巧,促进工业界、学术界与监管环境的沟通与合作
动态光散射技术(DLS)
纳米颗粒追踪分析技术(NTA)
BET 比表面积测定
激光衍射法 Zeta 电位
点击文末“阅读原文”,或扫下方二维码,即可报名参与!
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