聚焦BCEIA 2025现场丨奥谱天成荧光光谱仪新品出圈,多场景应用吸睛全场

2025-09-16 10:45:01 奥谱天成(厦门)光电股份有限公司



2025年9月10日,第二十一届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2025)在北京·中国国际展览中心顺义馆盛大启幕。本届展会吸引了全球千余家企业参展,奥谱天成携多款旗舰产品重磅亮相,以“性能卓越的产品+丰富的应用场景”的双重优势,引来众多专业观众驻足交流。



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三大亮点·彰显实力


完整产品矩阵:集中展示拉曼、荧光、分光光度计等核心系列,覆盖实验室精密分析与现场快速检测。

多场景解决方案 :面向科研、医药、农业、工业等领域,提供全链路的光谱分析支持。

互动演示体验:通过现场实测演示和操作互动,让到访嘉宾直观感受仪器性能与使用便捷性,并针对不同行业的检测需求进行深入交流,帮助客户全面了解国产高端光谱仪的技术优势与应用价值。



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高性能新品发布·荣获ANTOP奖


展会期间,奥谱天成新品亮相—ATF4500三维荧光分光光度计。以高灵敏度和低噪声检测为核心优势,能够精准捕捉微弱信号。ATF4500不仅为科研人员提供了强大的数据支持和精确的测量结果,还以智能化的设计理念提升了实验体验,是荧光分析领域的高端之选。



凭借卓越的性能与创新设计,ATF4500三维荧光分光光度计在本届展会上斩获分析测试百科网ANTOP 2025单项奖“多领域超快荧光检测标杆奖”。作为业内权威性奖项,ANTOP奖自2017年设立以来,始终见证着分析测试行业的前行与突破。此次获奖不仅体现了行业对奥谱天成技术实力的高度认可,也展示了 ATF4500 在荧光检测领域的卓越产品力。


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智创未来·共启光谱新篇


奥谱天成将继续秉承“让中国人用自己的高端光谱仪器,让全世界用中国的高端光谱仪器”的使命,持续推动光谱技术的创新与应用。未来,我们将为更多科研与产业用户提供高品质产品与系统解决方案,与行业伙伴共探技术创新,让分析检测更智能、更高效、更贴近需求,共同开拓分析测试行业的广阔前景。


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