- Leica EM FC7 冷冻超薄切片系统特别适用于CEMOVIS技术和Tokuyasu技术
- Leica EM FC7 冷冻超薄切片系统用于用于于EMUC7或UC6超薄切片机的低温切片系统
- Leica EM FC7 冷冻超薄切片系统具有一体化的冷冻超薄切片机拥有诸多特性
- Leica EM ACE600 高真空镀膜仪用于X-射线能谱及波谱分析,或者TEM铜网镀碳膜
- Leica EM ACE600 高真空镀膜仪可选辉光放电(用于网格表面亲水化)
- Leica EM ACE600 高真空镀膜仪具有内置石英膜厚检测器,精确控制镀膜厚度
- Leica EM TXP 精研一体机适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理
- Leica EM TXP 精研一体机适合于对样品微小目标的精细定位
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜可用于电子/电器/半导体,纳米材料,高分子材料,失效分析,功能材料,光伏/光电材料
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜可用于硅太阳能电池
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜可用在片状氧化铝
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜可用于电子/电器/半导体,电池/锂电池
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜可用于械设备,纳米材料,高分子材料,功能材料
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜可用于生命科学:细胞、药物、植物、生物组织、昆虫皮肤等
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜可用于材料科学:粉末、纤维、陶瓷、颗粒、金属、聚合物、复合材料等
- VERITAS钨灯丝扫描电镜具有能够分析重达2kg的样品,无需切割即可分析样品。例如PCB、半导体图案分析
- VERITAS钨灯丝扫描电镜具有能够分析重达2kg的样品。例如岩石、铁矿石可同时同时进行多个样品的分析
- VERITAS钨灯丝扫描电镜具有能够分析重达2kg的样品。例如岩石、铁矿石
- VERITAS钨灯丝扫描电镜可以无需切割即可分析样品。例如PCB、半导体图案分析
- 金属夹杂物扫描电镜可用于环境检测
- 金属夹杂物扫描电镜可用于汽车制造
- Leica EM TIC 3X徕卡 三离子束切割仪 应用于功能材料
- 电镜制样徕卡Leica EM TIC 3X 应用于高分子材料
- Leica EM TIC 3X徕卡 三离子束切割仪 应用于纳米材料
- 电镜制样Leica EM TIC 3X徕卡 应用于地矿/有色金属
- 电镜制样Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪 适用于样品制备
- Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪徕卡 可检测铝复合材料
- 徕卡 三离子束切割仪电镜制样 可检测金刚石
- 徕卡 三离子束切割仪电镜制样 三离子束切割技术在金刚石/铝复合材料界面分析中的应用
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 应用于电池/锂电池
- 台式扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 应用于电子/半导体
- 台式扫描电镜扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart 应用于电池/锂电池
- CUBE-Ⅱ SmartEM科特扫描电镜 应用于电子/半导体
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜 适用于动力高镍正极材料表征
- EM科特台式扫描电镜扫描电镜 可检测动力高镍正极材料
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 EM科特台式扫描电镜在动力高镍正极材料的应用
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜 应用于功能材料
- EM科特台式扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart 应用于高分子材料
- 台式扫描电镜扫描电镜EM科特 应用于纳米材料
- CUBE-Ⅱ Smart扫描电镜EM科特 适用于不导电样品表征
- EM科特CUBE-Ⅱ Smart扫描电镜 可检测不导电样品
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 EM科特扫描电镜用于观测不导电样品
- CUBE-Ⅱ SmartEM科特扫描电镜 应用于功能材料
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜 应用于失效分析
- 台式扫描电镜扫描电镜EM科特 应用于高分子材料
- EM科特台式扫描电镜扫描电镜 应用于纳米材料
- 台式扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 应用于地矿/有色金属
- 台式扫描电镜EM科特扫描电镜 应用于功能材料
- 台式扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart扫描电镜 应用于失效分析
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 应用于高分子材料
- 台式扫描电镜扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart 应用于纳米材料
- EM科特扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart 应用于地矿/有色金属
- EM科特CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜 适用于表征分析、微区分析
- 台式扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart扫描电镜 可检测片状氧化铝
- 台式扫描电镜EM科特CUBE-Ⅱ Smart EM科特扫描电镜在片状氧化铝应用
- 扫描电镜EM科特台式扫描电镜 应用于光伏/光电材料
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 应用于功能材料
- 台式扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart扫描电镜 应用于失效分析
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜EM科特 应用于高分子材料
- EM科特台式扫描电镜扫描电镜 应用于纳米材料
- 台式扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 应用于航空/航天
- 台式扫描电镜扫描电镜EM科特 应用于光伏/光电材料
- 扫描电镜EM科特CUBE-Ⅱ Smart 应用于功能材料
- CUBE-Ⅱ SmartEM科特扫描电镜 应用于失效分析
- 扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 应用于高分子材料
- 扫描电镜台式扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart 应用于纳米材料
- 扫描电镜台式扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart 应用于航空/航天
- 台式扫描电镜EM科特扫描电镜 应用于电子/半导体
- 扫描电镜台式扫描电镜EM科特 适用于表征微区分析
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜扫描电镜 可检测硅太阳能电池
- CUBE-Ⅱ Smart扫描电镜EM科特 EM科特扫描电镜应用-硅太阳能电池
- 台式扫描电镜EM科特CUBE-Ⅱ Smart 应用于光伏/光电材料
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜扫描电镜 应用于功能材料
- CUBE-Ⅱ Smart台式扫描电镜扫描电镜 应用于失效分析
- EM科特台式扫描电镜扫描电镜 应用于高分子材料
- 台式扫描电镜CUBE-Ⅱ SmartEM科特 应用于纳米材料
- 台式扫描电镜EM科特CUBE-Ⅱ Smart 应用于电子/半导体
- CUBE-Ⅱ Smart扫描电镜EM科特 适用于表征分析
- 扫描电镜EM科特CUBE-Ⅱ Smart 可检测硅片
- EM科特台式扫描电镜CUBE-Ⅱ Smart EM科特扫描电镜应用-硅片结构
- EM科特电镜能谱一体机CUBE-Ⅱ Plus 应用于失效分析
- 电镜能谱一体机CUBE-Ⅱ PlusEM科特 应用于高分子材料
- EM科特电镜能谱一体机扫描电镜 应用于纳米材料
- 扫描电镜电镜能谱一体机EM科特 应用于地矿/有色金属
- CUBE-Ⅱ Plus扫描电镜电镜能谱一体机 应用于功能材料
- EM科特扫描电镜电镜能谱一体机 应用于失效分析
- EM科特扫描电镜CUBE-Ⅱ Plus 应用于高分子材料
- EM科特扫描电镜CUBE-Ⅱ Plus 应用于纳米材料
- 电镜能谱一体机扫描电镜EM科特 应用于地矿/有色金属
- EM科特电镜能谱一体机CUBE-Ⅱ Plus 适用于表征分析、微区分析