- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 应用于其他化工
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 应用于涂料
- 堀场HORIBAUVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于表面粗糙度,界面层
- 堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 可检测电致变色器件
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 椭圆偏振光谱仪表征电致变色器件
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 椭偏仪 应用于其他化工
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 应用于涂料
- 堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数
- 堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 可检测TiO2薄膜和多层减反膜
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA 使用MM-16椭圆偏振光谱仪表征TiO2薄膜和多层减反膜
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA 应用于其他化工
- 椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于涂料
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于光学常数
- UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 可检测ZnO薄膜
- 椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 椭圆偏振光谱仪研究ZnO薄膜
- UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 应用于其他化工
- 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 应用于涂料
- UVISEL 椭偏仪堀场HORIBA 适用于光学常数
- 椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA 可检测玻璃和预蒸镀基底
- 椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 使用椭圆偏振光谱仪测量玻璃和预蒸镀基底上Y2O3的折射.pdf
- 椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他化工
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA 应用于涂料
- UVISEL 椭偏仪堀场HORIBA 适用于厚度,光学常数
- UVISEL 椭偏仪堀场HORIBA 可检测TiO2薄膜和多层减反膜
- 椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA TiO2薄膜和多层减反膜的表征
- 堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他化工
- 椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于涂料
- UVISEL 椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数
- 椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 可检测硫系玻璃
- 椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 硫系玻璃的表征
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 应用于地矿/有色金属
- 堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 应用于地矿/有色金属
- UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于光学常数
- 堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 可检测阳极氧化铝表面
- UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 使用MM-16型椭圆偏振光谱仪表征阳极氧化铝表面
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 应用于电子/半导体
- 椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 适用于厚度,光学常数
- 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可检测TFT和LTPSTFT-LCD显示器
- 椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA TFT和LTPSTFT-LCD显示器的表征
- 椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 应用于电子/半导体
- 堀场HORIBAUVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于电子/半导体
- 堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数
- 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可检测PDP等离子体显示屏
- 椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA PDP等离子体显示屏
- UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 应用于电子/半导体
- 椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数,掺杂的影响
- UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 可检测OLED-有机发光二极管
- UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 OLED-有机发光二极管
- 堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 应用于电子/半导体
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于厚度,光学常数
- 椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA 可检测OLED封装器件
- UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 表征OLED封装器件的厚度和光学常数-研究OLED的老化过程
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 应用于电子/半导体
- 椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 应用于电子/半导体
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 适用于膜厚度,光学性能,掺杂的影响,各向异性层
- 椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 可检测TFT-LCD显示屏
- 椭偏仪堀场HORIBAUVISEL TFT-LCD显示屏
- 椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他化工
- 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 适用于厚度,光学常数,各向异性
- UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 可检测介孔硅复合材料
- 堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 介孔硅复合材料
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 应用于其他生命科学
- UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 适用于厚度,光学常数
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 可检测非晶碳薄膜
- UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 表征非晶碳薄膜的厚度和光学常数
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 椭偏仪 应用于其他生命科学
- UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 应用于分子生物学
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 椭偏仪 应用于微生物
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 应用于细胞生物学
- 堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 适用于生物膜厚度,界面反应
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 椭偏仪 可检测生物素
- UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 使用椭圆偏振光谱仪表征用于生物材料的生物素-亲和素系统
- UVISEL 椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他生命科学
- 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于生物芯片结构
- 椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 可检测流动液体池环境中的生物芯片
- UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 用椭圆偏振光谱仪测量在流动液体池环境中的生物芯片结构
- 堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他生命科学
- 椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 适用于疏水改性多聚糖在气水界面的聚集
- HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 可检测溶液
- 椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 使用椭圆偏振光谱仪研究溶液里疏水改性多聚糖在气水界面的聚集
- UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA 应用于分子生物学
- UVISEL 椭偏仪堀场HORIBA 适用于膜厚检测
- 椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 可检测DNA传感器垫片
- UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 使用UVISEL相位调制型椭圆偏振光谱仪表征DNA传感器垫片
- 分子互作堀场HORIBA全自动表面等离子体共振成像仪 应用于其他生命科学
- 堀场HORIBA全自动表面等离子体共振成像仪XelPleX 应用于蛋白
- XelPleX 堀场HORIBA全自动表面等离子体共振成像仪 应用于分子生物学
- 全自动表面等离子体共振成像仪XelPleX 堀场HORIBA 适用于相互作用
- XelPleX 堀场HORIBA 分子互作 可检测生物分子
- 全自动表面等离子体共振成像仪XelPleX 分子互作 SPRi/ MALDI-MS array platform