TCS SP8 STED 3X徕卡德国 共聚焦显微镜 Leica 超高分辨率 工业显微镜应用-高清晰度共聚焦显微镜在薄膜表征上的应用有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。
由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力和粗糙度，以及这种表征技 术如何提供优于传统表征方法（如压痕或划痕测试）的结果。
在整个光谱范围上的超高分辨率——TCS SP8 STED 3X可提供多条STED激光线。更多的荧光染料可以被用于STED成像。
高速超高分辨率成像——门控STED提高了染料的光稳定性，并且提高了系统的活细胞性能。
TCS SP8 STED 3X提供了两条光路用于生成不同的STED模式。涡流相位掩膜形成的经典STED圆环能够提高x和y方向的分辨率。
第二条光路上的另一种相位掩膜形成z圆环，用来提高z方向的分辨率。STED激光可在两条光路之间自由分配。
您可以选择获得理想横向分辨率或纵向分辨率。您也可以在它们之间任选一个平衡点，以获得出色成像结果。超薄光学切片图像可以展现未知的细节。TCS SP8 STED 3X可以使您根据您的科研问题和使用的样品来调节显微镜在所有维度上的分辨率。
多色成像可提供不同结构之间相互关系的详细信息。STED 3X模块在一台仪器中提供多条STED激光线： 592nm和660nm的两条连续波激光，以及775nm的脉冲激光覆盖了可见光的完整光谱。从而允许使用更多的荧光染料进行超高分辨率成像。
白光激光器，AOBS（声光分光器）和可调光谱探测器使您可以对任意的荧光染料组合进行成像，给予多色超高分辨率实验最大的灵活性。
门控STED大幅拓展了已验证的连续波（CW）STED的功能，使您可以选择获得更高的分辨率或使用更低的激光能量，从而更加清晰地展现细节， 或者获得更多图像。
在STEDCW中，图像分辨率高度依赖于使用的染料的荧光寿命。STED激光对长寿命荧光染料的损耗效率高于对短寿命荧光。荧光处于激发态的平均时间越长，受激发射的几率越大，因此分辨率也越高。荧光寿命在STED成像焦点处并不是均匀分布的：长寿命态处于焦点中心，而短寿命态处于STED激光产生效果的焦点外围。只采集长寿命态的光子可以进一步缩小有效光斑。
HyD™探测器搭配白光激光器作为脉冲激发源，允许系统选择性地只在激发脉冲之后的特定时间窗口内探测。通过移动时间窗口使之远离激发脉冲，可以实现50nm以下的分辨率。使用相同的激光功率，门控STED可以获得比STEDCW高50%的分辨率。无需使用更多的STED光，就能观察到微小的细节，并且提高了系统活细胞成像的性能。
STED显微镜是通往超高分辨率的快速、直接的方式。LAS AF（徕卡高级荧光应用套件）给予您最高的舒适性。当您改变STED成像的技术参数时，一个根据使用参数推算的PSF的示意图会给您直接、在线的分辨率提升效果的视觉反馈。
作为一个创新点，LAS AF中配置了智能STED向导。直观的工作流程使您只需通过三个简单的滑块，就能控制仪器。加之有效PSF的示意图的帮助，您可以定义所需的超高分辨率。为了获得理想的结果，向导会调节所有必要的设置，例如STED激光强度、像素大小、z步长、针孔、门控设置和平均值。
物镜是每个显微镜的眼睛。它对于共聚焦系统的分辨率起着决定性作用。物镜的通透率和色差校正能力直接影响激发和探测效率。
徕卡显微系统以CS2物镜为基础，为STED 3X设计了带有最佳色差校正和通透性能的新型物镜。徕卡HC PL APO 100x/1.40 OIL STED WHITE使您可以在完整的可见光光谱内进行STED成像。
受激发射损耗（STED）显微镜是一个快速、直观和纯光学的成像方法。它可以用于研究纳米级的亚细胞结构和细胞动力学。STED超高分辨率成像能够满足日常研究要求。而且凭借优异的活细胞成像能力，可发现微小细节。TCS SP8 STED 3X支持完整的可见光谱，从而为您在所有维度进行超高分辨率成像提供了无限可能。
在x、y和z中灵活可调的直接超分辨率，展示了精细的细节信息。
多条STED光线实现了可见光的全光谱超高分辨率成像。
门控检测提高了分辨率以及活细胞性能。
STED白色物镜为全光谱范围提供理想色差校正。
自动光束校准保证系统的稳定性和结果的可靠性。
基于TCS SP8的模块化设计可随时升级。
智能STED向导可直观地控制实验。
惠更斯反卷积可以从原始数据中获取更多信息。
所有维度的超高分辨率——依靠TCS SP8 STED 3X，您可以根据您的需要自由设计PSF，从而选择xy和z方向上的理想分辨率。
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