Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT可用于半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域(布鲁克)

利用直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。

德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新，更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。

第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。

台阶仪Dektak XT能实现：

·  台阶高度重现性低于4埃
·  Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性
·  先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准
·  新硬件配置使数据采集时间缩短40%
·  64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍
·  频率，操作简易
·  直观的Vision64用户界面，操作简易
·  针尖自动校准系统
·  布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现高的性能
·  单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围

参数：

Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT可用于半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域, DektakXT

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