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组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。
高分辨X射线衍射仪为精准研究材料结构而设计,能对样品衍射角度进行最精确测量,为得到准确的、可信赖的相分析及结构解析结果奠定坚实的基础。
高分辨X射线衍射仪配置高稳定性X射线源、高性能半导体阵列计数器,可以在相对短的时间内获取最准确的的衍射谱图。 样品衍射角度由绝对增量式224位线光栅直接获取,能避免测角仪其它部件对衍射角度的影响,确保仪器在使用寿命内始终获得准确的峰位置。
国际标准样品(Si、Al2O3)全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。 X射线衍射谱图提供有关样品不同晶相的晶体结构等重要信息。这些信息包括点阵常数、点阵类型、原子替位、晶粒大小和非均匀应力,晶体结构能够逐步通过样品衍射谱图解析。
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