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JXA-iSP200 电子探针显微分析仪
可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。
产品特点:
日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。
2020年升级为JXA-iSP200。
EPMA快速启动
点击任何一点,就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。
用户菜单(User recipes)
能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件,菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。
EDS 的性能
数字化脉冲处理器
全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)
无风扇SDD (选配)
技术规格:
检测元素范围WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~U
X射线检测范围WDS检测的波长范围: 0.087~9.3nm,
EDS EDS检测的能量范围: 20keV
分光谱仪数量WDS: 1~5道可选、EDS: 1台
zei大样品尺寸100mm × 100mm × 50mm(H)
加速电压0~30kV(以0.1 kV为步长)
束流电流范围10-12 ~ 10-5 A
束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h(W)
二次电子分辨率6nm(W), 5nm(LaB6)*2
(W.D. 11mm, 30kV)
扫描倍率×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm)
扫描图像分辨率zei大 5,120× 3,840
彩色显示器EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024
SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024
光学显微镜
分辨率~1um
焦深1um
真空系统机械泵、分子泵、离子泵 *2
真空度样品室: 优于8.0 x 10-4Pa,
电子枪: 优于9.0 x 10-5Pa
JXA-iSP200电子探针显微分析仪,JXA-iSP200
JXA-iSP200电子探针显微分析仪信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于JXA-iSP200电子探针显微分析仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
2011年以来,捷欧路(北京)科贸有限公司先后举办了20期电子探针学习班,得到了用户的好评。我公司定于2023年6月12日至6月16日在中科院宁波材料研究所测试中心举办第21期电子探针学习班,欢迎受邀用户参加。 宁波材料所是中科院很有影响力的材料研究所,该所测试中心目前运行的各类扫描电镜共计8台,2023年4月安装了日本电子的JXA-iHP200F(5道)场发射电子探针,相信大家会有很好的收获。  
江西南昌东华理工大学
JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
JSM-IT200扫描电子显微镜
群组论坛--扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
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