电子探针EPMA-1720系列

先进的分析本领与优越的操作性能融为一体！前沿科技，隆重登场。

高灵敏度 ·  高精度 ·  高分辨率 「简单•易懂的操作」

从软件到硬件凝结了全新技术，铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度·高精度·高分辨率的基础上，又新增了简单·易懂的操作性能，将电子探针功能发挥至极致。既可满足初学者简易操作的需求，又能适合专家级的科研分析。

 前沿设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析

X射线取出角决定分析性能，52.5°高取出角更胜一筹

图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁（Fe）、右下图为钛（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。

 从SEM观察到开始分析，简便易行，大幅度提高工作效率。

同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像

在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。


SEM图像和光学图像在同一显示器上，减少视线的移动。

通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品。

只需单击一下即可开始SEM图像观察。

只需点击【SEM AUTO】图标，就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察。

束流变换更加简单·快速·高精度，且保持聚焦。

只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流。
通过联动控制，束流大小改变后也能保持图像聚焦状态。

※外观及规格的变动，恕不另行通知。

    　　技术参数：

    　　●分析元素范围 4Be～92U

    　　●X射线分光器数 2～5 道

    　　●X射线取出角 52.5°

    　　●罗兰圆半径 4英寸(101.6mm)

    　　●二次电子分辨率 6nm ( EPMA-1720), 5nm ( EPMA-1720H)

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