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可以瞬间测量绝对量子效率(绝对量子产率)。对应粉体、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低迷光多通道光谱仪、大大减少了在紫外范围中的杂散光。由于采用了积分半球单元,实现了明亮的光学系统,同时利用其优点再激发荧光校正,可以进行高精度测量。
SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统,可以针对发光器件的光电特性进行有效测量,系统搭配的QEpro光谱仪具有信噪比、低杂散光等特性,可确保测量结果得准确性;同时,系统配有强大的测试软件,对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。
测量参数
量子效率
亮度
量子效率随电流密度的曲线
色坐标
辐射通量,光通量
峰值波长
应用领域
无机电致发光
有机电致发光
分子薄膜EL器件
产品优势
体积小巧:便于灵活使用及运输。
原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量
流程化操作:设备无需频繁校准。
产品参数
性能参数:
辐射亮度
350-1100nm
900-1700nm
300-6*108mW/Sr/m2
辐射通量
注:以上测试样品为标准朗伯体测试结果。
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电致发光材料(Electroluminescent Materials)被广泛应用于各种显示、照明等领域。在电致发光材料性能表征的过程中,我们通常将待测样品加上恒定的电压,来测试器件的电流、亮度等参数。这些参数很多都受器
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