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工商注册信息已核实!领域: | 电子/电器/半导体 | ||
样品: | 电子元器件 | 项目: | 量子效率 |
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【微光谱应用】探究不同测试方法在电致发光器件表征中的不同 |
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电致发光材料(Electroluminescent Materials)被广泛应用于各种显示、照明等领域。在电致发光材料性能表征的过程中,我们通常将待测样品加上恒定的电压,来测试器件的电流、亮度等参数。这些参数很多都受器件电阻的影响,因此准确的获得器件电阻就非常的重要。
在器件发光器件的测试过程中,分别有两点法和四点法两种测试方法,今天我们就这两种方法进行一个简单的介绍并验证了两者的区别。 两点法和四点法的区别 两点法是我们测量电阻时最常使用的一种方法,其测量原理如下图所示。 将两根测试导线分别连接于待测物R的两端,通过测量仪器上的电压表和电流表读取电流I和电压U,从而得到待测物的电阻R=U/I。 四点法全称为开尔文四线检测(KelvinFour-terminal Sensing),其原理可以简化为下图。 为实际了解两点法和四点法的差别,我们将四根2m长的导线分别以两点法和四点法,在恒压模式通过电压扫描的方式,实际测试了同一个发光LED的电流和亮度。 在图中,随着电压的不断增大,电流和亮度均逐渐开始增大,在电压增大的过程中,可以明显观察到两点法和四点法所测得结果的偏差,四点法的电流和亮度比两点法的高。这是因为在升压的过程中,LED的伏安特性发生了改变,电阻逐渐减小,因此导线电阻所产生的压降比例增大,使两点法和四点法测量的最终结果产生不同。 上图为在不同电压下两点法和四点法偏差比例,我们可以直观看到电流和亮度的差异比例在不断增大,因此四点法在恒压测试中可明显获得更为准确的电流和亮度的结果。 但是在实际的测量中,测试结果往往受到多种因素的影响。因此当发光材料在工作电压下只有比较小的电阻时候,选用四点法便可以消除导线电阻、ITO膜的电阻等影响,得到一个更加准确的结果。
测试结果