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测量曲面样品或样品无法移动时,需要用到特殊的探头,这些探头包裹一层柔性橡胶,可以直接放到样品上面,用光纤将其与主机相连。基于不同的应用,有三个型号可选。
MP-FLVi:用于基底较薄且透光的薄膜,需要消除背面反射
MP-RP90:用于可接受2mm光斑直径及不需要考虑背面反射的样品
MP-RP45:可用45度测量厚度
MP-FLVis
包含可见光聚焦镜头,0.4mm光斑直径
MP-RP90
2mm光斑直径,光谱范围较宽
MP-RP45
包含两个石英准直器,以45度角测量样品
便携式探头,便携式探头
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显微反射膜厚仪MProbe MSP
EC-770F 铁基涂层测厚仪
EC-770N 导电金属基涂层测厚仪
MProbe NIR薄膜测厚仪
MProbe RT薄膜测厚仪
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
MProbe Vis薄膜测厚仪
EC-770 两用涂层测厚仪
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