徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 参考多项行业标准。完成电镜制样产品的检测。可以用在多个行业领域中的电镜制样产品资料_项目。
LEICA EM TIC 3X 三离子束研磨仪
您是否需要制备硬的,软的,多孔,热敏感。脑性和/或非均质多相复合型材料.获得高质量样品表面,以适宜于扫描电子显微镜(SEM分析和原子力显微镜AFM检测? Leics EM TIC 3X采用的宽场离子束研磨系统非常适合能谱分析EDS,波谱分析WDS. 俄歌分析Auger,背散射电子衍射分析EBSD。离子离研磨技术适用于多种多样材质样品,获得高质量切割截面或抛光平面的解决方案。使用该波术对样品进行处理、样品受到形变或损伤的可能性低,可暴露出样品内部真实的结构信息。
徕卡 M IC 3X可以灵活选择多种样品台,不仅适用于高通量实验,也话合于特定制样需求实验室。依据您具体需求、每一台徕卡EM TIC 3X都可装配多种可切换样品台,如标准样品台。三样品台,旋转样品台或冷冻样品台,应用于常规样品制备,高通量栏品制备,以及某些高分子聚合物,橡胶或生物材料等泪度软感样品制备。其与速卡 FM VC环塘传输系绕相湿廉,可以实现将冷冻的生物样品表面受保护地被真空冷冻传输进入链膜仪或冷冻扫描电镜Cryo-SEM中,或者应用于地质或工业材料样品,实现真空传输。
环境控制型工作流程解决方案 凭借与 Leica EM TIC 3X 配套的 VCT 对接台接口,可为易受环境影响的样品和/或低温样品提供出色的刨平工作流程,此类样品包括 •生物材料 •地质材料 •工业材料。 随后,这些样品会在惰性气体/真空/冷冻条件下,被传输至我们的镀膜系统 EM ACE600 或 EM ACE900 和/或 SEM 系统。
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