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徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 适用于截面结构项目,参考多项行业标准。可以检测半导体芯片等样品。可应用于纳米材料行业领域。
1.独特的三离子束系统,可获得最佳的截面处理质量,并可高效获得宽且深的切割区域,大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中最多处理3个样品。因此对有高通量需求的实验室,徕卡EM TIC 3X是最佳解决方案。
产品简介:独特宽场三离子束,以垂直于样品侧面纵向轰击样品,实现高质量无应力“切割”截面,几乎适用于各种材料。还可对样品进行离子束抛光处理。产品介绍:可复制的结果Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面,用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。使用 Leica EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现高品质的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。带来前所未有的便利!对于离子研磨仪的效率来说,真正重要的是同时具备出色的品质结果和高产量。与前代版本相比,全新版本不仅切割速度提高了一倍,其独特的三离子束系统还优化了制备质量,并缩短了工作时间。一次可处理样品多达 3 个, 并可在同一个载物台上进行横切和抛光。工作流程解决方案可安全、高效地将样品传输至后续的制备仪器或分析系统。灵活的系统 — 随时满足您的需求凭借可灵活选择的载物台,Leica EM TIC 3X 不仅是进行高产量处理的理想设备,还适用于委托检测的实验室。根据您的需求,可选择以下可互换的载物台对 Leica EM TIC 3X 进行个性化配置:
标准载物台
多样品载物台
旋转载物台
冷却载物台
真空冷传输对接台
用于制备标准样品、高产品处理,以及在低温条件下制备对高温异常敏感的样品,例如聚合物、橡胶或生物材料。环境控制型工作流程解决方案凭借与 Leica EM TIC 3X 配套的 VCT 对接台接口,可为易受环境影响的样品和/或低温样品提供出色的刨平工作流程,此类样品包括•生物材料•地质材料•工业材料。随后,这些样品会在惰性气体/真空/冷冻条件下,被传输至我们的镀膜系统 EM ACE600 或 EM ACE900 和/或 SEM 系统。
德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 徕卡 应用于纳米材料,Leica EM TIC 3X
德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 徕卡 应用于纳米材料信息由徕卡显微系统(上海)贸易有限公司为您提供,如您想了解更多关于德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 徕卡 应用于纳米材料报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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