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徕卡显微操作DM6M LIBS适用于激光诱导击穿光谱元素分析系统项目,参考多项行业标准。可以检测激光诱导击穿光谱等样品。可应用于多个行业领域。
2合1系统一用于目视和化学分析目视和化学材料检验二合一,节省90%的时间。DM6MLIBS解决方案的集成激光光谱功能可提供在显微镜图像中所观察到的化学指纹图谱。利用所有显微镜功能,通过化学分析检查样品和鉴定材料。1秒即可获得化学指纹图谱运用成熟的LIBS (激光诱导击穿光谱 技术进行即时元素分析,可在数秒内获得轰击点的化学信息。将工作流程精简至只有一个步骤,以结果为重点!0-无需样品制备找到感兴趣的位置,随后只需单击一下,即可触发 LIBS分析。所见即所测!无需制备和传输样品一无需系统调节一无需重新定位感兴趣区
徕卡激光诱导击穿光谱仪集光学显微镜观察和元素成分分析与一体,与其他可视化定点元素分析仪器相比,节约时间,大大提升检测效率
DM6M LIBS具有研究级全自动金相显微镜DM6M的产品特点,全自动控制便于快速找到感兴趣区域,并进行元素分析
主要用于分析金属元素和半导体元素
适用于清洁度检测、金相分析、矿物鉴定和新电子材料分析等
无需制备样品,可检测较大的样品
使用脉冲激光束多次轰击样品表面可进行一定深度的元素分析
DM6M LIBS徕卡 可检测激光诱导击穿光谱,DM6M LIBS
DM6M LIBS徕卡 可检测激光诱导击穿光谱信息由徕卡显微系统(上海)贸易有限公司为您提供,如您想了解更多关于DM6M LIBS徕卡 可检测激光诱导击穿光谱报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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