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安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 可用于测定半导体,适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。
ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链,始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代,整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来,位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导体产业链端客户密切合作,引领着 ICP-MS 在全球半导体产业链中的应用不断创新。
极低检测限,甚至可用于以前难以检测的元素,例如 S、Si、P
功能强大的 ICP-MS MassHunter 软件可简化您的工作流程并使方法开发自动化
标准 4 通道反应池气体控制
独特的母离子/子离子扫描模式,清除呈现反应过程
用于研究和方法开发的出色通用的 ICP-MS
监测原料化学品和硅片加工浴中的低水平超痕量污染物
定量分析未知蛋白质和多肽,以准确测量低浓度的异质元素硫和磷
对复杂环境、食品和生物样品中低至亚 50 纳米的纳米颗粒进行表征
以更高的准确度测量所有食品样品中的低浓度硒、砷和各种形态的砷
受控的反应化学过程提供一致、可靠的结果
分离重叠的同量异位素,超越高分辨率 ICP-MS 的能力
ICP-MSAgilent 8900 安捷伦 安捷伦半导体无机元素分析概览,Agilent 8900
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