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堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜用于测定树脂嵌入式芯片,柔性电路板,多层印刷版,符合行业标准0。适用品质控制,缺陷分析项目。
结合光学图像,高速高准确度进行元素测量,无需前处理,可应用于考古、地质、制药、法医、生物/ 生命科学等多个领域。
产品特点
SDD 检测器,无需液氮
双真空设计,可测量含水生物样品
同时采集X 射线荧光图像和透射图像
高光谱扫描,单点/ 多点自动,智能面分析
测量尺寸从10μm2(zei高的空间分辨率)至10cm2
HORIBA 堀场HORIBA能散型XRF 适用于品质控制,缺陷分析,XGT-7200V X射线分析显微镜
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