您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
基于Optilever激光扫描技术。
使用应力控制,避免薄膜分层,形成凹凸状。 光学设计减少图形衬底对激光的干涉。 在TSV, 半导体以及LED工艺上控制基底弯度。 在平板显示行业,控制玻璃的平整度 LED行业中, 可分析蓝宝石或碳化硅裸片的BOW/ WARP, 以及LED制程中不同薄膜造成的应力在20米曲率的标准片上,重复性少于0.01公差。 双波长激光设计, 如某一波长激光在样本反射度不足,系统会自动使用另一波长激光进行扫瞄,满足不同材料的应用 全自动平台,可以进行2D及3D扫瞄 相同产品中提供数据点:每英寸可测1000点,平均每晶圆超过32线。 提供3D应力分布图。 拥有三维应力分布图和大量的数据点使用户能够检测局部的应力变化。 500 及 900°C高温或-50°C低温型号可选 热解析光谱分析可选。 样品台可通用于2至8寸基底, 另备有可容纳450mm直径或370 X 470mm样本的型号
多种型号以供选择:手动上下片)自动上下片(Cassette to cassette, C2C) 可添加并整合于多腔式集束型架构设备(cluster tool)
薄膜应力和硅片翘曲检测仪,薄膜应力和硅片翘曲检测仪
薄膜应力和硅片翘曲检测仪信息由铂悦仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于薄膜应力和硅片翘曲检测仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
群组论坛--测试分析仪器专家
您可能要找:FSM薄膜应力测试薄膜应力和硅片翘曲检测仪价格薄膜应力和硅片翘曲检测仪薄膜应力测试参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号