ContourGT表面计量系列产品
用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪
业界zei高垂直分辨率
极高的可靠性和zei好的测量重复性
zei高的表面测量和分析速度
zei强的使用性,操作简便,分析功能强大
30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰
ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,专利技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,推出历年来来zei先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界zei高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,zei广泛使用和zei直观的3D表面计量平台。
业界zei高的垂直分辨率,zei强大的测量性能
0.5倍至200倍的放大倍率,在极宽的测量范围内,对样品表面形状和纹理进行表征。
任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程提供了无以伦比的测量灵活性。
高分辨率摄像头可选配件,提高了横向分辨率和GR&R测量的重复性。
多核处理器下运行的Vision64TM 软件,大大提高三维表面测量和分析速度
测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性
高度直观的用户界面,拥有业界zei强的操作简便和分析功能强大
三十年技术创新,迎来第十代全新产品
我们的干涉仪是世界上第一个包含了著名的垂直扫描干涉技术(VSI模式),扫描头倾斜调整,专利的自动校准和双LED照明等革新技术。
ContourGT系列既结合了这些已被证实的设计功能,又在硬件上进行了大量的改进,从而给用户提供了目前世界上zei精确的、重复性zei好的光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被证实的,将近三十年的优越性能运行跟踪记录,从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。
ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件,此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果,从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。
OMM结合了Bruker专利的双LED照明光源技术,在任何样品任意放大倍数下均可提供卓越的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含zei大三个视场目镜,以zei大化放大倍率的灵活性和稳定性。
ContourGT系列可选择型号中,具有包含Bruker专利技术的内置一级标准自校准功能的能力,使得闭环扫描的性能zei大化。此模块包含一个参考信号,在仪器启动时对系统进行自校准,然后连续监控并校正每次测量,以保证绝对的精确度和卓越的重复性。
Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜,而不是样品倾斜。这样,被测量的样品将总处于聚焦位置,并且在测量的视野中,确保了操作的一致性和简易性。
*这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。
在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。
选配的马达驱动塔台可安装zei多4个干涉物镜,从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时,您的测试点始终处于聚焦和中心位置。
在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。
布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑
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ContourGT非接触式三维光学形貌仪
ContourGT系列结合强大的64位多核处理器与分析软件,具有专利技术的双LED光源和内部自校准功能,可提供迄今为止zei先进的光学轮廓仪,测量表面形貌、台阶高度、表面粗糙度,拥有业界zei高的垂直分辨率。在ContourGT系列基础上,还专为高亮度LED的质量保证/质量监控推出了ContourGT- PSS。ContourGT系列的不同型号为用户的不同需求提供zei佳解决方案,满足精密制造和特定行业的要求,如高亮度LED、触摸屏、太阳能电池、隐形眼镜、半导体、硬盘、汽车和骨科等。
ContourGT 非接触3D光学轮廓仪,ContourGT
ContourGT 非接触3D光学轮廓仪信息由布鲁克(北京)科技有限公司-纳米表面仪器 为您提供,如您想了解更多关于ContourGT 非接触3D光学轮廓仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。