您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
牛津仪器电子背散射衍射系统EBSD系统, C-NANO 是一款杰出的高分辨型CMOS EBSD, 它的采集速度比基于CCD的高分辨EBSD探测器有显著提高。
C-Nano是一种多功能、高效的EBSD探测器。利用Symmetry探测器的创新技术,为C-Nano这一入门级探测器提供了优越的性能。C-Nano适用于表征各种类型的样品,它的高像素分辨率使其非常适合于精细的应变分析以及复杂和具有挑战性材料的常规分析。
C-Nano是一款适用于各种材料和应用的EBSD探测器。利用专门定制的CMOS传感器,C-Nano的采集速度可达400点/秒,并能得到优质的312x256像素分辨率的花样:这比同类型的基于CCD的探测器采集速度快3倍,得到至少4倍像素的花样。C-Nano值得让您信任的性能,使其即使在更具挑战性的材料上,也能提供出色数据质量。
C-Nano的光学设计确保了更高的灵敏度和子像素失真级别,使其成为需要优质、高清花样的精细的应变分析的理想探测器。C-Nano的灵敏度确保在使用非常低的束流(在3nA以下)时也能达到更大的分析速度,从而能够对电子束敏感材料和纳米晶材料进行详细和成功的分析。
C-Nano还得益于整个牛津仪器CMOS探测器系列的新设计功能,包括独特的可避免潜在、昂贵代价的碰撞发生的接近传感器。C-Nano是一个您可以一直信赖使用的探测器。
1244x1024像素的全分辨率花样,适合高分辨率EBSD应用
400点/秒快速的采集速度
对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度
无失真图像
C-Nano探测器是高性能CMOS技术的入门选项:
保证在3nA束流条件下,实现400pps的标定速度
高速下采集312x256像素的花样分辨率——是同等速度下高分辨CCD探测器的4倍
EBSD百万像素全分辨率花样(1244x1024像素)——高分辨率EBSD应变分析的理想选择
低失真光学器件, 确保角度精度优于0.05°
优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——增大空间分辨率
即使在最快速度下也能实现无缝的EDS集成
波纹管SEM接口,保持SEM真空完整性
独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置
简单直观的探测器设置,确保每次都能获得满意效果
五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像
牛津仪器C-Nano+ EBSD多功能探测器,C-Nano+
牛津仪器C-Nano+ EBSD多功能探测器信息由牛津仪器科技(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于牛津仪器C-Nano+ EBSD多功能探测器报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
牛津仪器AZtecTEM软件
牛津仪器C-Swift EBSD探测器
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature
牛津仪器Azteclive能谱实时元素成像系统
牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器
GB/T 30703-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则
GB/T 41076-2021 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析
GB/T 19501-2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则
GB/T 23414-2009 微束分析.扫描电子显微术.术语
GB/T 19501-2004 电子背散射衍射分析方法通则
GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
YB/T 4677-2018 钢中织构的测定 电子背散射衍射(EBSD)法
GB/T 36165-2018 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射(EBSD)法
ISO 23703:2022 微束分析.用电子背散射衍射(EBSD)评估奥氏体不锈钢机械损伤的取向分析指南
GB/T 40307-2021 无损检测 材料织构的中子检测方法
ASTM E2627-13 使用完全再结晶多晶材料中的电子背散射衍射 (EBSD) 测定平均粒径的标准实施规程
ASTM E2627-13(2019) 用电子背散射衍射(EBSD)测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
T/CSTM 00839-2022 材料基因工程 术语
ASTM RR-E04-1008 2013 E2627-使用电子背散射衍射 (EBSD) 测定完全再结晶多晶材料中的平均晶粒尺寸的实践
BS ISO 23703:2022 微束分析 通过电子背散射衍射(EBSD)评估奥氏体不锈钢机械损伤的取向差分析指南
BS ISO 13067:2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测量
ISO 23749:2022 微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
ISO 24173:2009 微光束分析.用电子背散射衍射进行定向测量的指南
T/CAB 0144-2022 CT扫描装置X射线管再生阳极金属靶盘
BS ISO 23749:2022 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量测定
2024年第八届色谱网络研讨会
质谱新纪元 探索组学无限可能—2024组学技术前沿创新高峰论坛
电子电器玩具合规性分析的难点及X荧光分析应对方案
生物药工艺开发与优化
牛津仪器C-Nano+ EBSD探测器
Symmetry S2
牛津仪器 Symmetry EBSD探测器
Symmetry S3 全能型EBSD探测器
利用自动终点检测实现提高工艺一致性和可重复性
牛津仪器ANDOR生命科学 “共赢未来 – Winning Together” 2024春季代理商Workshop圆满落幕
线上研讨会 | 纳米光学与微纳加工:推动AR/VR产业革新
网络研讨会 | 利用Imaris AI加速您的图像分析项目
牛津仪器荣获 “ACCSI 2023年度科学仪器行业售后服务十佳企业” 奖项
就在明天 | 牛津仪器全新一代原子力显微镜VERO技术研讨会
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号