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O系列可满足以下类型用户的需求:极小的样品,如半导体,连接器或PCB需要测试多个样品的多个位置需要测量非常薄的涂层(<100nm)需要在短时间内完成测量(1-5秒)保证符合IPC-4552A,4553A,4554和4556ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励!
产品详情
O系列 结合了高性能和小的X射线光斑尺寸。 多毛细管聚焦光学系统可以取代标准Bowman系统中安装的准直仪组件,从而实现这一目标。 光学器件旨在将来自管出口窗口的X射线聚焦到非常小的光斑尺寸(80μmFWHM),同时实际上保留100%的管通量。 因此,与准直仪系统一样,多毛细管光学组件不会使无法穿过小孔的X射线衰减,而是使来自管的几乎所有X射线都能到达样品。 结果对于测试非常小的组件或薄涂层的灵敏度更高。 与光学系统和类似尺寸的准直仪相比,更短的测试时间可以实现更好的可重复性。
该系列采用80μm毛细管光学结构,同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。与 P系列其他型号相比,O系列的相机具有更大的放大倍数,45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近,所以使用时样品必须平整。
机型对比
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