DM8 工业荧光共聚焦系统

From Eye to Insight

LEICA DM8
荧光共聚焦系统｜材料科学应用宣传册

PRODUCT / 产品介绍

产品介绍
从点扫描光路到多维成像，
建立材料研究的完整观察能力

DM8· HIGH SENSITIVITY · HIGH RESOLUTION · MULTIDIMENSION

从清 晰 二 维 图 像，扩 展 到  X Y Z 与时 间维度

3D

沿 Z 轴连续采集光学切片，重建样
品内部结构。

XY Z T

在 XYZ 空间信息上叠加时间序
列，追踪动态变化。

LAS X Navigator 支持从大视野定位到多维数据采集 。

棱镜分光与 AOBS，让激发和检测范围自由匹配

41 0 – 8 5 0

可调光谱检测范围

8

最多同时选择 8 根谱线

发射检测波段可自由设置（最小检测带宽 5 nm）
AOBS 精确调谐激发谱线，提升波长组合灵活性
窄激发缺口减少发射信号损失

WL L 白激 光 连 续 调 谐，减 少 固 定 谱 线限制

48 5 – 6 8 5 n m                8

标准连续可调范围              最多同时输出谱线

可选 NIR 扩展至 790 nm；WLL Plus 范围为 440‒790 nm
激发与发射光谱扫描用于优化染料选择和接收范围
材料自发荧光光谱扫描不受固定激光谱线约束

最高  8 1 9 2 × 8 1 9 2，速 度 与 精 细 度 按 任 务切换

81 9 2 × 8 1 9 2

最高图像扫描分辨率

10 f p s

@ 512 × 512

多达 5 个探测器通道同时检测
支持视野移动、0.75–48× 扫描变倍与 200° 光学旋转
低倍快速定位，高倍精细采集

更高 探 测 效 率，为 弱 信 号 保 留 更 多 细 节

o w e r
Hy D S   

高灵敏度
光谱检测
弱信号成像

>2 ×                                                                   58 %

蓝绿区 PDE 较传统 PMT 提升                              500 nm 典型 PDE

更亮的信号，保留更多图像细节
更温和的激发，降低活样品光损伤风险
更多荧光颜色自由组合，提升实验灵活性

Na v i g a t o r
螺旋 式 大 视 野 扫 描

螺旋扫描快速生成样品概览
在全景与局部细节之间快速切换
Mark & Find 标记并返回目标区域
Stitching 支持大范围图像拼接

LI G H T N I N G 横向 分 辨 率 低 至  1 2 0 n m，微区 细 节 清 晰 可 见

XY

12 0    nm    LIGHTNING   横向分辨率

Z

20 0    nm    LIGHTNING   轴向分辨率

通过材料本征荧光或标记荧光成像，专注于钙钛矿、高分子材料缺陷分布、石油内部有机物等微区发光特性分析。

SEE FINER · MEASURE DEEPER

产品与 配置

从荧光观察到共聚焦分析，覆盖完整实验工作流

CORE SPECIFICATIONS

观察方式
反射光（荧光）；共聚焦
激光波段
405 nm 激光
485–685 nm 白激光（可扩展至 790 nm）
488 nm、561 nm、638 nm 标准可见光激光
反射光轴
6位电动滤光片更换盘；荧光强度管理器（5级）；0.1 s电动快门
镜筒
电动；2个接口位置（CCD摄像机、目镜）
相机缩倍镜
1.25×手动；1.25×/4×电动；0.35×/1.25×/4×电动
物镜转换器
电动、编码、6孔M25
Z 轴驱动
电动；移动行程−2/13 mm
控制元件
支架上无操作按钮；使用 Leica STP 8000 控制面板操作
Leica CTR高级
电子设备
控制支架功能的独立单元；Leica XY载物台；100 W卤素灯电源
计算机接口
RS232C / USB 2.0
软件工具
Leica Application Suite X（LAS X）；显微镜配置硬件配置器

模块化配置可随应用与实验路径扩展。

应用 案 例 ：
材料 研 究 的 多 尺 度 证 据

FROM IMAGE TO EVIDENCE

• 发光材料
Eg： 钙钛矿等

• 量子点
Eg： AIE，碳点等

显示器
Eg： OLED

高分子聚合物

石油化工

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