透射电子显微镜HT7800II

简介
株式会社日立高新技术（以下简称“日立高新技术”，所属于株式会社日立制作所的Connective Industries（CI）事业部門）发布了一款120 kV透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，以下简称为“TEM”）HT7800II，该显微镜在多个领域中，可高质量、高重复性地采集数据，同时亦可提高观察工作的效率。HT7800II不但延续了前代机型HT7800系列高分辨率、高对比度的性能以及卓越的操作性这些核心优势，还进一步强化了自动化功能。通过将日常调整、设置操作和图像采集等流程自动化，支持用户的多种观察环境，满足用户需求，助力用户完成高质量、高效率
(1) 一台设备即可实现高对比度与高分辨率观察

　设备延续了前代机型搭载的日立独创复合物镜，通过单一物镜即可设置高对比度模式（长焦距）与高分辨率模式（短焦距）。高对比度模式适用于生物组织、高分子材料等需要大视野、高对比度观察的解析场景；高分辨率模式则适用于纳米颗粒、碳材料、病毒等需要高倍率、高分辨率观察的场景。用户可根据观察样品的特性及观察目的，一键轻松切换模式，一台HT7800II设备即可灵活满足多样化的解析需求。



(2) 通过直观操作与多元自动化辅助功能，实现稳定性，提高工作效率

　设备采用GUI界面，将从视野搜索到拍摄的全流程操作整合于同一个监视器上，相机切换、倍率设置等操作均可直观、轻松完成，各类用户均可轻松开展观察工作。此外，本系列首次将用于辅助调节电子束的“自动电子束调节功能”作为标准配置。电子束的调节是直接影响采集数据质量的重要环节，以往需要根据样品和条件，凭借用户的知识和经验，花费大量时间手动完成。而此次新增的一键自动调节功能，不仅提升了调节效率，更保障了数据的稳定性，使无TEM专业知识的用户也能采集到高质量数据。此外，设备可搭载自动化支持软件“EM Flow Creator”*1，该软件能根据观察工作的流程*2，灵活构建包含设置、调节等一系列操作在内的定制化方案。这些自动化功能与简便操作，既能减轻用户的各类操作负担，又能确保观察工作的稳定进行。　

*1“EM Flow Creator”为可选功能。

*2指TEM基本观察工作流程，包括视野搜索→观察→分析→数据解析。

(3) 通过多元功能组合，满足多样化应用场景
　设备标配电子束断层扫描功能，可通过TEM连续倾斜成像对样品进行三维结构解析。同时提供多种可选功能，包括：用于与光学显微镜相关性分析的“CLEM（Correlative Light and Electron Microscopy）系统”、用于观察冰包裹样品*3等冷冻样品的“低温系统”、用于元素分析的“扫描透射电子显微镜（STEM：Scanning Transmission Electron Microscope）”和“EDS（Energy Dispersive X-ray Spectroscopy）元素分析”等。可根据客户的研究目的与解析需求，提供多方位的适配设备。

*3一种将含水样品与液体一同快速冷冻，包裹在非晶质薄冰中进行观察的技术。可最大限度减少真空环境及电子束辐照对样品的损伤，实现接近自然状态的结构观察。

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