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Filmetrics F20单点薄膜透明膜半透明膜厚度测量仪膜厚仪
您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,Filmetrics F20 膜厚测量仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点,Filmetrics F20 膜厚测量仪适用于各种应用。
Filmetrics F20 膜厚测量仪-我们能测量什么?
薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等
薄膜种类:透明及半透明薄膜,常见如氧化物、聚合物甚至空气
薄膜状态:固态、液态和气态薄膜都可以测量
薄膜结构:单层膜、多层膜;平面、曲面
Filmetrics F20 膜厚测量仪-膜层范例
基本上光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜可以测量。
这包括电介质与半导体材料,例如:
*取决于薄膜种类
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可以做哪些实验?
配套的耗材试剂?
使用注意事项?