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赛默飞K-Alpha X 射线光电子能谱仪（XPS）
发布时间：2025年02月
Thermo Scientific K-Alpha X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使 XPS 操作简单直观，而不会牺牲性能或功能。
最先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS 系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。
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网络讲座：Thermo Scientific K-Alpha XPS 系统
X 射线单色器允许在50 µm 至 400 µm 的分析区域内以 5 µm 的步长进行选择选择 ，以寻求所需的信号最大化。
高效电子透镜、半球形分析仪和检测器可实现卓越的检测和快速数据采集。
使用 K-Alpha XPS 系统的专利光学观察系统和 XPS SnapMap 聚焦样品，帮助您快速确定分析测试区域。
获得专利的双束电子源将低能量离子束与低能量的电子（小于 1 eV）耦合，防止分析过程中的样品带电，从而在大多数情况下消除了荷电效应。
使用 EX06 离子源进行更深层表面的分析。自动源优化和气体处理功能确保卓越的性能和实验重现性。
由 Avantage 数据系统指导的直观操作使 K-Alpha XPS 系统成为多用户、测试中心和注重高效操作和高测试量的 XPS 专家的理想选择。
提供可选的各种特殊样品台，用于变角 XPS、样品加偏压测试或从手套箱惰性转移样品。
性能数据
| 分析仪类型 |
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| X 射线源类型 |
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| X 射线光斑尺寸 |
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| 深度剖析 |
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| 样品最大面积 |
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| 样品最大厚度 |
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| 真空系统 |
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| 可选配件 |
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材料表面或层间界面的化学作用决定了材料的行为。我们的表面分析参考资料和资源可以帮助您设计所需的特性或在材料性能不如预期时加深对材料的了解。
Thermo Scientific Avantage Data System for XPS 的一个关键特色是一个庞大的知识库，其中包含有关 XPS分析及其表征的元素的信息。
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样品
通过使用 microCT、SEM扫描电镜和TEM透射电镜、拉曼光谱、XPS和数字3D可视化与分析进行多尺度分析、实现电池开发。了解该方法如何提供构建更好电池所需的结构和化学信息。
金属的有效生产需要精确控制夹杂物和沉淀物。我们的自动化工具能够执行金属分析需要的各种任务，包括纳米粒计数、EDS元素分析和TEM样品制备。
聚合物微观结构决定了材料的整体特性和性能。显微CT能够对聚合物形态和成分进行全面的微量分析，适用于R&D和质量控制应用。
地质科学依赖于对岩石样品中的特点进行一致、准确的多尺度分析观察。SEM-EDS结合自动化软件，可对岩石学和矿物学研究的纹理和矿物成分进行直接的大规模分析。
随着对石油和天然气的持续需求，人们一直需要高效、有效地提取烃类。赛默飞世尔科技为各种石油科学应用提供了一系列显微镜和光谱分析解决方案。
在纳米技术领域，材料的性质与宏观技术领域中有本质的不同。为了研究它们，S/TEM仪器可以与能量色散X射线光谱仪结合使用，以获得纳米、甚至亚纳米级的分辨率数据。
作为法医学调查的一部分，可利用电镜分析和比较犯罪现场证据的痕迹。兼容的样本包括玻璃和油漆碎片、工具标记、药物、爆炸物和GSR（枪弹残留）。
催化剂对于大多数现代工业工艺至关重要。其效率取决于催化颗粒的微观组成和形态；EDS电镜是研究这些性质的理想选择。
合成纤维的直径、形态和密度是确定过滤器使用寿命和功能的关键参数。扫描电子显微镜(SEM)是快速轻松地研究这些特性的理想技术。
新型材料研究对低维材料的结构越来越感兴趣。具有探头校正和单色化的STEM扫描透射电镜可用于高分辨率二维材料成像。
现代车辆中的每一个部件都是为了安全、效率和性能而设计的。使用电镜和光谱学详细表征汽车材料，可提供关键的工艺决策、产品改进和新材料。
技术
X射线光电子能谱 (XPS) 能够进行表面分析，提供材料最上面10 nm的元素组成以及化学和电子状态。借助深度剖析，XPS分析可以扩展到各层的组成部分。
文件
赛默飞K-Alpha X 射线光电子能谱仪（XPS）,K-Alpha
赛默飞K-Alpha X 射线光电子能谱仪（XPS）信息由赛默飞世尔科技（中国）有限公司为您提供，如您想了解更多关于赛默飞K-Alpha X 射线光电子能谱仪（XPS）报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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