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仪器简介:
适用样品:光学镀膜(如SiO2, NOx, ITO, ZnO, CuO 等on玻璃、压克力、PET and Silicon wafer)、GaN on Sapphire、彩色滤光片、Solar cell、偏光片等 。样品形状可以使平滑、粗糙、平面和曲面的,可以根据需要选择合适的样品台。
检测功能:薄膜厚度、穿透率、反射率、色度
检测功能:薄膜厚度、穿透率、反射率、色度 波长范围:380-1000nm 膜厚精度:1nm 厚度范围:300-400,000 Angstrom (依样品不同而异) 检测速度:1-3 sec 检测平台:10cm×10cm手动式XY滑台 光源:卤素灯380-1700nm 适用样品:光学镀膜(如SiO2, NOx, ITO, ZnO, CuO 等on玻璃、压克力、PET and Silicon wafer)、GaN on Sapphire、彩色滤光片、Solar cell、偏光片等 。样品形状可以使平滑、粗糙、平面和曲面的,可以根据需要选择合适的样品台。
光学膜厚仪,MFS-TR-P
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