样品台移动范围 | XY:150mm*150mm,200mm*200mm,Z:25mm | 样品尺寸 | D:150mm,200mm,T:20mm |
定位检测噪声 | <0.03nm |
Automatic Defect Review for Media and Substrates
Higher Throughput, Automatic Defect Review
NX-HDM的自动缺陷检查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基体缺陷的识别、扫描和分析流程。借助光学检查工具所提供的缺陷位置图,Park ADR可自动定位这些位置并进行成像(分两步):
(1) 缩小扫描成像,以准确定位缺陷。
(2) 放大扫描成像,以获取缺陷的细节。在真实缺陷测试中,我们可以看到相比于传统的方法,该自动功能可将缺陷检查通量提高10倍。
Automated Search Scan & Zoom-in Scan
经过优化的扫描参数让两步式扫描更为快速:
(1) 快速的低分辨率搜寻式扫描,来准确定位缺陷。
(2) 高分辨率的放大扫描,来获取缺陷的细节。可调节的扫描尺寸和扫描速度参数能满足用户的所有需求。
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Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM
借助专有的先进映射算法,从自动光学检测(APO)工具中获取的缺陷坐标图可准确地传入和映射至Park NX-HDM。该技术让全自动高通量缺陷成像成为可能。
Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool
Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness Measurement
Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
业内对于超平面介质和基底的要求越来越高,所以需要满足设备体积不断减小的需求。此外,Park NX-HDM拥有精准的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内较低的本底噪声和True Non-Contact技术,Park NX-HDM毫成为市场上表面粗糙度测量较为精准的原子力显微镜。
Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode
探针磨损更低=高分辨率扫描更长久
无损式探针-样品接触=样品变化程度小
避免参数依赖
Tapping Imaging
探针磨损更快=扫描图像模糊
破坏性探针-样品接触=样品受损变化
高参数依赖性
Accurate AFM Topography with Low Noise Z Detector
True Sample Topography™ without piezo creep error
形貌使用了低噪声Z轴探测器信号
宽带宽下0.02 nm的低Z轴探测器噪声
Park NX AFM
Conventional AFM
Park NX-HDM features
Fully Automated Pattern Recognition
Automatic Measurement Control
2D Flexure-Guided Scanner with 100 µm x 100 µm Scan Range
Closed-loop XY Scan with Dual Servo System
High Speed Z Scanner with 15 µm Scan Range
Low Noise XYZ Position Sensors
Industry’s Lowest Noise Floor
帕克 NX-HDM 原子力显微镜 表面粗糙度测量,Park NX-HDM
帕克 NX-HDM 原子力显微镜 表面粗糙度测量信息由Park帕克原子力显微镜为您提供,如您想了解更多关于帕克 NX-HDM 原子力显微镜 表面粗糙度测量报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。