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参考报价: | 面议 | 型号: | Park NX-HDM |
品牌: | Park原子力显微镜 | 产地: | 韩国 |
关注度: | 1006 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
仪器种类 | 扫描隧道显微镜 |
样品台移动范围 | XY:150mm*150mm,200mm*200mm,Z:25mm | 样品尺寸 | D:150mm,200mm,T:20mm |
定位检测噪声 | <0.03nm |
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Higher Throughput, Automatic Defect Review
NX-HDM的自动缺陷检查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基体缺陷的识别、扫描和分析流程。借助光学检查工具所提供的缺陷位置图,Park ADR可自动定位这些位置并进行成像(分两步):
(1) 缩小扫描成像,以准确定位缺陷。
(2) 放大扫描成像,以获取缺陷的细节。在真实缺陷测试中,我们可以看到相比于传统的方法,该自动功能可将缺陷检查通量提高10倍。
Automated Search Scan & Zoom-in Scan
经过优化的扫描参数让两步式扫描更为快速:
(1) 快速的低分辨率搜寻式扫描,来准确定位缺陷。
(2) 高分辨率的放大扫描,来获取缺陷的细节。可调节的扫描尺寸和扫描速度参数能满足用户的所有需求。
Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM
借助专有的先进映射算法,从自动光学检测(APO)工具中获取的缺陷坐标图可准确地传入和映射至Park NX-HDM。该技术让全自动高通量缺陷成像成为可能。
Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool
Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
业内对于超平面介质和基底的要求越来越高,所以需要满足设备体积不断减小的需求。此外,Park NX-HDM拥有精准的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内较低的本底噪声和True Non-Contact技术,Park NX-HDM毫成为市场上表面粗糙度测量较为精准的原子力显微镜。
Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode
探针磨损更低=高分辨率扫描更长久
无损式探针-样品接触=样品变化程度小
避免参数依赖
探针磨损更快=扫描图像模糊
破坏性探针-样品接触=样品受损变化
高参数依赖性
True Sample Topography™ without piezo creep error
形貌使用了低噪声Z轴探测器信号
宽带宽下0.02 nm的低Z轴探测器噪声
前沿和后沿无过冲
只需出厂前进行一次校准
Fully Automated Pattern Recognition
Automatic Measurement Control
2D Flexure-Guided Scanner with 100 µm x 100 µm Scan Range
Closed-loop XY Scan with Dual Servo System
High Speed Z Scanner with 15 µm Scan Range
Low Noise XYZ Position Sensors
Industry’s Lowest Noise Floor
帕克 NX-HDM 原子力显微镜 表面粗糙度测量信息由Park帕克原子力显微镜为您提供,如您想了解更多关于帕克 NX-HDM 原子力显微镜 表面粗糙度测量报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途