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MS-1000 台式型,用于固体表面分子结构定性分析
MS-1000 是飞行时间二次离子质谱,属于静态模式的SIMS,对于样品表面的分子非常敏感
MS-1000 相比其它SIMS,比较便宜,性能价格比高,方便使用,15分钟可以得到样品表面信息。
MS-1000专业设计用于质量控制和错误诊断,生产时的指标监测,以及其它表面分析手段做不到的领域.
质谱分析仪和离子枪设计成一体,使得MS-1000 成为全球zei小的静态二次离子质谱!
飞行时间二次离子质谱,TOF-SIMS
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OS GSO ISO 13084:2013 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
BH GSO ISO 13084:2016 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
GSO ISO 13084:2013 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
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ISO 13084:2018 表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准
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