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该款仪器采用zei新科技分析X光荧光光谱,对贵金属成分进行无损快速分析。该 仪器采用半导体探测器,其分辨率远远优于正比计数探测器,能够准确无误地分 析出黄金料中含铱、锇、钌等元素。 GY-MARS贵金属分析仪采用美国生产的硅探 测器XR-100CR。该款半导体探测器,被NASA(美国国家航空航天局)所选用作为 “勇气”及“机遇”号火星车的探测器。GY-MARS比一般采用半导体探测器的分 析仪,在连续工作时间、对环境要求等方面有明显的优势。投入市场以来,受到 广大新老客户的信赖。
仪器性能指标 1.精确度:0.1‰—1‰ 2.测量时间:100秒—300秒 3.测量范围:金、铂(1%—100%)其他(10%—99.99%) 4.长时间工作状态稳定 工作环境温度(5—28℃)工作环境湿度(20—80%RH) 5.26元素全范围同时分析 6.电源:110V/220V 7.有分析、显示、打印等功能 8.机电一体化
XRF GY-MARS/T68 X荧光管谱分析仪,GY-MARS/T
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