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发布时间:2024年04月
四探针方阻电阻率测试仪,FT-330
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四探针测试仪在半导体材料中的应用四探针测试仪是一种用于测量半导体材料电学性质的仪器。它通过四个探针与样品接触,可以快速、准确地测量样品的电阻率、方阻、薄层电阻、表面电阻、晶格常数、原子密度等电学性质。四探针测试仪的测量原理是,通过电流从四个探针流入样品,测量探针之间的电压和电流,从而计算出样品的电学性质。其中,两个探针作为电流源,另外两个探针作为电压测量计。四探针测试仪具有以下特点:测量精度高:四探针测试仪的测量精度非常高,可以达到小数点后几位。测量速度快
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