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发布时间:2022年06月
电子显微镜分析仪器
XFlash® 7 - 最新 EDS 探头系列
优化的设计 更好的分析
快速、精准、可靠
亮点
1,000,000 cps:有效输出计数可达 1,000,000 cps,无与伦比的分析速度
> 2,200 条元素谱线:包含所有 K,L,M 和 N 线系的全系原子数据库,可以对复杂的数据进行定量分析
> 1.1 sr:更大的采集立体角,优化的几何结构,更快的采集速度,更高的测试效率
布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS XFlash® 7 能谱探头具有最大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。
XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。
XFlash® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案,此外,独特的 XFlash® FlatQUAD 为一些高难度样品提供了更好的解决办法。
Slim-line 技术,大立体角设计,最新一代脉冲处理器。
更好的能量分辨率和采谱性能。
精致的定量算法,独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。
每一套EDS系统都独立进行优化,保证以更快的速度得到更精确的结果。
更大的输出计数率使测量时间大大缩短,可以在任何条件下进行定量和面分布分析而不再受数据量的困扰。
优化的结构设计,可以分析各种高难度的样品。
优化的设计降低了背底和吸收的影响,使定量结果更为准确可靠。
更低的背底和吸收使检测限更小,可以检测到更低含量的元素。
一体化的 ESPRIT 软件平台将EDS, WDS, EBSD 和 微区-XRF 无缝组合,成为一个综合的分析平台,可用于所有的 SEM, FIB-SEM 以及 EPMA。
SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列,SEM QUANTAX EDS XFlash 7
SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列信息由布鲁克电子显微纳米分析仪器部为您提供,如您想了解更多关于SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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