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仪器简介:
NanoFirst-3000轻敲式AFM采用了增强型NanoSPM-IIIa SPM电子学控制器,在原有的NanoSPM-III SPM控制器的基础上增加了16-bit D/A通道和数字I/O接口,所有的A/D和D/A输入输出偏差和零点漂移的影响都经过自动校正消除,数字反馈采样频率高达64.0kHz。宽范围集成高压运算放大器保证了+/-170V的输出和低于3mV的噪声电平,扫描范围更大。针尖-样品有手动和自动逼近方式,轻敲分辨率0.05nm,可测量和分析频率-RMS曲线、RMS-间隙曲线、形貌像、起伏信号像、相位信号像 、静电力像、磁力像。选配液体池可在液体中进行轻敲模式成像。系统软件能工作在Win98/2000/XP环境,主机选用台式PC或笔记本电脑均可。适合于高校纳米科技教学、科学研究、纳米材料及粉体分析、电化学测量、生物制药、会议现场演示和工业现场测试,基本配置包括高分辨CCD观察系统,具有操作简便、实用性强的特点。 NanoFirst-3100型AFM还包括接触式AFM和STM的所有功能。
NANOFIRST-3000 标准配置技术指标 工作模式 接触模式(Contact Mode)、摩擦力/横向力模式(LFM)、F-Z模式、轻敲模式、频率-幅值(f-RMS)曲线模式、幅值-间隙(RMS-Z)曲线模式 样品要求 尺寸≤Φ30mm,厚度:≤15mm 样品移动台范围 0~5mm 分辨率 轻敲:横向0.3nm,纵向0.05nm(DNA定标) 接触:横向 0.25nm, 纵向 0.03nm(云母定标) 正弦波频率范围 3k~1000kHz 正弦波峰峰值 0~10.0V 共振峰搜索方式 人工和自动 扫描范围 6μm×6μm 扫描速率 >40000点/秒 扫描角度 0~360° 扫描偏移 任意 扫描器校正 实时非线性校正 横向测量精度 <2% 扫描区域选择 实时扫描窗口+扫描存储窗口内剪切 图像采样点 256×256或512×512 XY扫描比率 1:1,2:1,4:1,8:1 控制器反馈方式 DSP数字反馈 反馈采样速率 64.0kHz A/D通道 1个14-bit A / D,4个独立16-bit A / D D/A通道 4个独立18-bit D/A,1个16-bit D/A 步进马达控制 手动和全自动进退 计算机接口 USB 防震方式 全金属屏蔽防震隔音箱 NANOFIRST-3100标准配置技术指标 工作模式 STM:恒流模式、恒高模式、电流-电压(I-V)隧道谱、电流-间隙(I-Z)隧道谱; AFM:接触模式(Contact Mode)、摩擦力/横向力模式(LFM)、F-Z模式、轻敲模式、频率-幅值(f-RMS)曲线模式、幅值-间隙(RMS-Z)曲线模式 样品要求 尺寸≤Φ30mm,厚度:≤15mm 样品移动台范围 0~5mm 分辨率 STM:横向 0.1nm, 纵向0.01nm(以HOPG定标) AFM:横向 0.25nm, 纵向0.03nm(云母定标) 轻敲:横向0.3nm,纵向0.05nm(DNA定标) 正弦波频率范围 3k~1000kHz 正弦波峰峰值 0~10.0V 共振峰搜索方式 人工和自动 扫描范围 6μm×6μm 扫描速率 >40000点/秒 扫描角度 0~360° 扫描偏移 任意 扫描器校正 实时非线性校正 横向测量精度 <2% 扫描区域选择 实时扫描窗口+扫描存储窗口内剪切 图像采样点 256×256或512×512 XY扫描比率 1:1,2:1,4:1,8:1 控制器反馈方式 DSP数字反馈 反馈模式 STM:线性和对数反馈;AFM:线性反馈 反馈采样速率 64.0kHz A/D通道 1个14-bit A / D,4个独立16-bit A / D D/A通道 4个独立18-bit D/A,1个16-bit D/A 步进马达控制 手动和全自动进退(STM自动保护针尖) 计算机接口 USB 防震方式 全金属屏蔽防震隔音箱
为科研和工业应用设计,配有专业防震箱; DSP全数字化控制,操作简洁直观; 仅需更换探针架,即可切换STM、接触式AFM、轻敲模式; 提供实验标准光栅、云母和HOPG样品; 可组合光学连续变倍显微镜,独特的双光路照明,样品观测范围从1nm到 20mm; 可选配液体池和电化学附件;可选配单分子操纵、局域电性能测量、纳米刻蚀和加工功能; 可选配环境气氛控制设备; 配备二维样品移动平台,快速搜索感兴趣的样品区域; 采用集成高压运算放大器,噪声低; 工作软件为中文Windows 98/2000/XP操作系统,标准视窗工作界面; 多通道图像同步采集显示,实时查看高度trace和retrace同时对比剖面图; 集成扫描器硬件非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度可达到或优于2%; 定点实时测试多种曲线功能; 设置“扫描频率安全上限”功能,可限制zei快扫描频率,保护探针; 慢扫描轴使轴能功能,可始终保持对同一物理扫描线进行扫描成像,易于反馈参数调整; 自定义缺省扫描参数,并可随时恢复到缺省扫描参数; 图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能; 即使图像扫描为完成也能强制存盘;易学得在线提示及过程帮助; 全功能调色板编辑器,预存20种常用的调色板数据,方便选择; 功能强大的离线图像数据分析和处理功能 。
多模式扫描力显微镜(AFM),NANOFIRST3000&3100
多模式扫描力显微镜(AFM)信息由天津徕科光学仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于多模式扫描力显微镜(AFM)报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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