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压力衰减方法用于软性包装无损泄漏测试,特别适合使用薄膜、金属箔或是薄板等不透气材料的袋状包装。对食品、医疗器械和医药产品的可剥离包装形式,这种方法具有优良的测试速度和可控制性。 压力衰减无损包装测试 当包含内部空间的包装放入真空腔体,在包装壁的无孔材料内外形成一个气压差。使用一个限制平板防止包装完全膨胀,包装壁会对平板施加应力。当限制平板和一个力传感器结合,由于真空腔体内部的气压差导致的膨胀包装上的力就可以测量了。 TME 压力衰减测试系统能为您特定的包装和应用定制客户化解决方案,联系TME 或是授权代理商获得更多技术支持。
仪器特色 高灵敏度-可探测到包装壁或密封 微米级的小孔 高重复性,量化测试结果 实时统计分析和质量控制图 可适合在线包装测试系统 客户化定制夹具
压力衰减泄漏测试仪,MDT-500SG
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