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NDA 500型X荧光光谱仪主要配置
►SDD硅漂移电制冷半导体探测器
►侧窗钼(Mo)靶管
►标配16组复合滤光片
►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
►具有自动Mapping功能
►具备符合中国国家标准的样品混侧功能
►内置标准工作曲线
►配置On-line实时在线技术支持与服务平台
►具备开放工作曲线技术平台
►分析软件操作系统分级管理
NDA 500型X荧光光谱仪产品参数
►名称:X荧光光谱仪
►型号:NDA500
►输入电压:220±5V/50Hz
►消耗功率:≤500W
►环境温度:15-30℃
►环境湿度:≤80%(不结露)
►主机外形(mm):长*宽*高=900*500*440
►样品仓(mm):长*宽*高=430*380*120
►主机重量:约60公斤
技术指标
►元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素
►测量时间:
对聚合物材料,典型测量时间为30秒
对铜基体材料,典型测量时间为30秒
►检出限指标(LOD):
对聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
►精密度指标,以连续测量7次的标准偏差σ表征:
对聚合物(塑胶)材料:LOD(Pb)≤15mg/Kg;LOD(Hg)≤15mg/Kg;LOD(TCr)≤15mg/Kg;LOD(TBr)≤15mg/Kg;LOD(Cd)≤7mg/Kg
►准确度指标,以系统偏差δ进行表征
对聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg
对铜基体材料:δ(Pb)≤150mg/Kg
纳优科技 NDA 500型X荧光光谱仪,NDA 500
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