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XAD-200是一款全元素上照式荧光光谱仪,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足RoHS有害元素检测及成分分析,搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移,实现无人值守多点测量,测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术,解决了诸多业界难题。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.03mm²
拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm
核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度)
配备全自动可编程移动平台,可实现无人值守,对成百上千个样品进行全自动检测
涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)
成分分析范围:铝Al(13)- 铀U(92)
RoHS、卤素有害元素检测
人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作
标配四准直器自动切换
配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度小于10%
XAD-200广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、航天航空、环保行业、汽车行业、卫浴行业、精密电子等
一六 XAD-200高端全自动型膜厚仪,XAD-200
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一六 XAD-200高端全自动型膜厚仪
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