您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
薄膜纳米厚度测量仪
自动化薄膜厚度分布图案系统
依靠F54先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
可测样品膜层
基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:
氧化硅
氮化硅
类金刚石DLC
光刻胶
聚合物
聚亚酰胺
多晶硅
非晶硅
硅
相关应用
半导体制造
• 光刻胶• 氧化物/氮化物/SOI• 晶圆研磨减薄/封装
液晶显示器
• 盒厚• 聚酰亚胺• ITO
光学镀膜
• 硬涂层• 抗反射涂层• 滤光片
微电子
• 光刻胶• 硅膜• 氧化铝/氧化锌薄膜滤镜
薄膜纳米厚度测量仪 F54,F54
薄膜纳米厚度测量仪 F54信息由苏州英莳特仪器科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于薄膜纳米厚度测量仪 F54报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
F10-RT 薄膜厚度测量仪
太阳能膜厚纳米厚度测量仪 F50
群组论坛--分析仪器
您可能要找:美商菲乐涂镀层及薄膜测厚仪薄膜纳米厚度测量仪 F54价格F54涂镀层及薄膜测厚仪参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号