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英国DAGE公司 X光测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(Open Tube)技术,在放大倍数方面远远超过了采用闭管(Closed Tube)技术的X光检测仪达到亚微米级,能满足客户更高精度的需求。 观察右下方的照片,你可以对该仪器在PCB和半导体行业的应用有一个大概的了解。在对物体需要进行几百甚至几千倍的放大观察时, 你一定需要该机器的协助!在制造业向生产更精巧,更密集的方向发展时,该仪器就显得必不可少,进一步的具体应用,请与我们联络! 技术参数:
主要特点: DAGE7500 VR X光无损检测系统 主要特征: • zei小分辨率:950纳米(0.95 微米); • 影像接收器左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度; • 图像采集:1.3M万数字CCD; • zei大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm); • zei大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm); • 系统zei大放大倍数: 至5650X; • 显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS); • 安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 X光检查在PCB及半导体行业中被认为是zei关键的测试步骤。在当今的封装设计中发现缺陷是非常重要的,因此,X光系统必须在不同的观察角度能够提供高分辨率、高放大倍率和高对比度的图像。 在评定一台X-Ray时,检测速度的快慢和用户友界面是否友好都是必不可少的。 DAGE XD7600 XiDAT系列X光机安装的软件版本为具有图像引导功能的DAGE11。该软件使用方便,具有进行亚微米级的观察、自动检测、动态的波动分离、图像抓拍、zei友好的用户界面等优势。 该设备是标准的配置,能够提供实时的高质量数字式的X光图像,图象的分辨率和灰阶都有很大程度的增强,zei大可达70度的倾角观察。
DAGE X-RAY,XD7500
DAGE X-RAY信息由实密国际贸易(上海)有限公司(北京代表处)为您提供,如您想了解更多关于DAGE X-RAY报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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