英国DAGE公司 X光测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。
观察右下方的照片，你可以对该仪器在PCB和半导体行业的应用有一个大概的了解。在对物体需要进行几百甚至几千倍的放大观察时， 你一定需要该机器的协助！在制造业向生产更精巧，更密集的方向发展时，该仪器就显得必不可少，进一步的具体应用，请与我们联络！



技术参数： 

主要特点：

DAGE7500 VR X光无损检测系统 主要特征：

• zei小分辨率：950纳米(0.95 微米)；

• 影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；

• 图像采集:1.3M万数字CCD；

• zei大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm)；

• zei大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；

• 系统zei大放大倍数: 至5650X；

• 显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；

• 安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等



X光检查在PCB及半导体行业中被认为是zei关键的测试步骤。在当今的封装设计中发现缺陷是非常重要的，因此，X光系统必须在不同的观察角度能够提供高分辨率、高放大倍率和高对比度的图像。
在评定一台X-Ray时，检测速度的快慢和用户友界面是否友好都是必不可少的。
DAGE XD7600 XiDAT系列X光机安装的软件版本为具有图像引导功能的DAGE11。该软件使用方便，具有进行亚微米级的观察、自动检测、动态的波动分离、图像抓拍、zei友好的用户界面等优势。
该设备是标准的配置，能够提供实时的高质量数字式的X光图像，图象的分辨率和灰阶都有很大程度的增强，zei大可达70度的倾角观察。

DAGE X-RAY信息由实密国际贸易（上海）有限公司（北京代表处）为您提供，如您想了解更多关于DAGE X-RAY报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途