您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
镀层行业现状概述:
镀层是一种用金属在表面沉积的工艺,已有数百年的历史,被广泛应用于轻工业、电子电气、机械等行业,现已成为了社会发展中*的基础工艺。随着工业经济对镀层技术的需求日期增加,对电镀层的质量也有了更严格的要求。这也要求对电镀制品的检查方法和评判技术,需要在时间、方法等方面更加高效。
镀层质量检查的内容因零件和镀层而异,但其中镀层的厚度是镀件品质的重要保证因素。相比于传统的阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等镀层测量方法,XRF技术因为其无损、快速、可靠等优点,是镀层厚度测量领域中常见的方法之一。
金属镀层测厚仪
品牌:LANScientific/浪声
型号:TrueX COAT1
产品简介:
金属镀层测厚仪 LANScientific/浪声是苏州浪声科学仪器有限公司凭借多年XRF技术研发经验,融合镀层市场需求,设计岀的一款性能好的手持式XRF仪器。 TrueX COAT适用于镀层厚度测量及材料分析,具有无损,可靠,高生产力,高灵活性等优点,可用来定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。
产品特性:
一键智能操作:“开机启动—瞄准测试—查看结果",整个分析过程仅需数秒便可完成,操作简单,即使非技术人员也可轻松掌握。
轻松自定义:在测试基础上,提供多种自定义设置,可以根据检测需要变更测试条件,也可根据筛选需要变更阈值,实现对不同材料、不同元素的个性化筛选。
浪声(LANScientific)网址:www.lanscientific.com服务热线:
浪声金属镀层测厚仪 镀锌层测厚仪,TrueX COAT1
浪声金属镀层测厚仪 镀锌层测厚仪信息由苏州浪声科学仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于浪声金属镀层测厚仪 镀锌层测厚仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
浪声 TrueX COAT3手持式镀层测厚仪 镀层测厚分析仪
TrueX系列(手持式) TrueX手持式 XRF 分析仪
浪声台式x荧光镀层测厚仪 涂层镍层测厚 ScopeX COAT1
浪声金属镀层测厚仪 镀锌层测厚仪
浪声手持式土壤重金属分析仪 TrueX 700/TrueX 760
浪声手持式矿石分析仪 TrueX 960
JB/T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪
QB/T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法 X荧光光谱法
CB-13-1990 X 射线荧光测量镀层厚度
DIN EN ISO 3497:2001 金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法
KS D ISO 3497-2002(2022) 金属镀层镀层厚度的测量X射线光谱法
IPC TM-650 2.3.44-2016 通过 X 射线荧光(XRF)光谱法测定化学镀镍(EN)层的厚度和磷含量
KS D ISO 3497:2002 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
SANS 3497:2008 金属镀层.涂层厚度测量.X射线光谱法
NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 金属镀层.镀层厚度的测定.X射线光谱法
ISO 3497:1990 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
JJF 2024-2023 能量色散X射线荧光光谱仪校准规范
IS 12860-1989 X射线荧光技术法测定金属镀层厚度
SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
SANS 3497:1990 金属镀层.镀层厚度的测定.X射线光谱测定法
ECA CB-13-1990 镀层厚度测定的X射线荧光
ISO 3497:2000 金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法
TS 3181-1978 金属覆盖层 镀层厚度的测量.X射线光谱法
环境监测热点项目培训专场
食品真实性鉴别与溯源
"传承·创新·发展" —— 产学研深度融合推动中药现代化网络研讨会
酒类相关标准制修订情况及应用解读
浪声便携式X射线荧光-拉曼联用仪
浪声手持式光谱仪 三元电池分析仪
浪声 三元催化分析仪 TrueX 500/ TrueX 500S
浪声 RoHS检测仪 X射线荧光分析 ScopeX CSA 660F
浪声 万足金展厅/高纯金专用检测仪 测金属的仪器 ScopeX G59
浪声 便携式通用型分析仪 能量色散型X荧光光谱仪 PeDX 980/980S
浪声 万足金展厅/高纯金专用检测仪 黄金检测仪 ScopeX G59
浪声展厅/工厂专用测金仪 PeDX G7
镀层测厚仪在电解铜箔中的应用
关于XRD样品制备的常见影响因素
铝合金的成分检测——LIBS
【技术】纯镁/镁合金中化学元素分析
手持式激光诱导击穿光谱仪(LIBS)的原理及应用案例
【技术】X射线衍射(XRD)的样品种类
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号